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74F573

更新时间： 2024-02-14 22:32:19
品牌 Logo 应用领域
恩智浦 - NXP 锁存器
页数 文件大小 规格书
14页 111K
描述
Octal transparent latch 3-State

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74F573 技术参数

是否Rohs认证： 符合生命周期：Obsolete
包装说明：SOP, SOP20,.3Reach Compliance Code：compliant
风险等级：5.84JESD-30 代码：R-PDSO-G20
逻辑集成电路类型：D LATCH最大I（ol）：0.024 A
位数：8功能数量：1
端子数量：20最高工作温度：70 °C
最低工作温度：输出特性：3-STATE
封装主体材料：PLASTIC/EPOXY封装代码：SOP
封装等效代码：SOP20,.3封装形状：RECTANGULAR
封装形式：SMALL OUTLINE包装方法：TAPE AND REEL
电源：5 V最大电源电流（ICC）：55 mA
Prop。Delay @ Nom-Sup：8 ns认证状态：Not Qualified
子类别：FF/Latches标称供电电压 (Vsup)：5 V
表面贴装：YES技术：TTL
温度等级：COMMERCIAL端子形式：GULL WING
端子节距：1.27 mm端子位置：DUAL
Base Number Matches：1

74F573 数据手册

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Philips Semiconductors  
Product specification  
Latch/flip-flop  
74F573/74F574  
DC ELECTRICAL CHARACTERISTICS  
(Over recommended operating free-air temperature range unless otherwise noted.)  
LIMITS  
UNIT  
NO TAG  
SYMBOL  
PARAMETER  
TEST CONDITIONS  
MIN  
TYP  
MAX  
NO TAG  
±10%V  
2.4  
2.7  
V
V
V
V
V
CC  
V
V
= MIN, V = MAX,  
IL  
CC  
V
High-level output voltage  
OH  
V
IH  
= MIN, I = MAX  
OH  
±5%V  
3.4  
0.35  
0.35  
–0.73  
CC  
±10%V  
0.50  
0.50  
–1.2  
CC  
CC  
= MIN, V = MAX,  
CC  
IH  
IL  
V
V
Low-level output voltage  
Input clamp voltage  
OL  
V
= MIN, I = MAX  
OL  
±5%V  
V
CC  
= MIN, I = I  
I IK  
IK  
Input current at  
maximum input voltage  
I
I
V
CC  
= MAX, V = 7.0V  
100  
µA  
I
I
I
High-level input current  
Low-level input current  
V
V
= MAX, V = 2.7V  
20  
µA  
IH  
CC  
I
= MAX, V = 0.5V  
–0.6  
mA  
IL  
CC  
I
Off-state output current,  
High-level voltage applied  
I
V
= MAX, V = 2.7V  
50  
µA  
µA  
OZH  
CC  
CC  
O
Off-state output current,  
Low-level voltage applied  
I
I
V
= MAX, V = 0.5V  
–50  
OZL  
O
NO TAG  
Short-circuit output current  
V
= MAX  
= MAX  
–60  
–150  
40  
mA  
mA  
mA  
mA  
mA  
mA  
mA  
OS  
CC  
I
I
I
I
I
I
30  
35  
40  
45  
50  
55  
CCH  
CCL  
CCZ  
CCH  
CCL  
CCZ  
74F573  
V
CC  
50  
Supply  
current  
(total)  
60  
I
CC  
65  
74F574  
V
CC  
= MAX  
70  
85  
NOTES:  
1. For conditions shown as MIN or MAX, use the appropriate value specified under recommended operating conditions for the applicable type.  
2. All typical values are at V = 5V, T = 25°C.  
CC  
amb  
3. Not more than one output should be shorted at a time. For testing I , the use of high-speed test apparatus and/or sample-and-hold  
OS  
techniques are preferable in order to minimize internal heating and more accurately reflect operational values. Otherwise, prolonged shorting  
of a High output may raise the chip temperature well above normal and thereby cause invalid readings in other parameter tests. In any  
sequence of parameter tests, I tests should be performed last.  
OS  
6
1989 Oct 16  
1...3456789...14

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