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5962-9221503MRA

更新时间： 2024-02-02 23:34:11
品牌 Logo 应用领域
德州仪器 - TI 逻辑集成电路触发器锁存器
页数 文件大小 规格书
7页 80K
描述
具有清零端的八路 D 型触发器 | J | 20 | -55 to 125

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5962-9221503MRA 技术参数

是否Rohs认证： 不符合生命周期：Obsolete
零件包装代码：QLCC包装说明：QCCN, LCC20,.35SQ
针数：20Reach Compliance Code：compliant
HTS代码：8542.39.00.01风险等级：5.21
系列：FCTJESD-30 代码：S-CQCC-N20
JESD-609代码：e0长度：8.89 mm
负载电容（CL）：50 pF逻辑集成电路类型：D FLIP-FLOP
最大频率@ Nom-Sup：71400000 Hz最大I（ol）：0.032 A
位数：8功能数量：1
端子数量：20最高工作温度：125 °C
最低工作温度：-55 °C输出极性：TRUE
封装主体材料：CERAMIC, METAL-SEALED COFIRED封装代码：QCCN
封装等效代码：LCC20,.35SQ封装形状：SQUARE
封装形式：CHIP CARRIER峰值回流温度（摄氏度）：NOT SPECIFIED
电源：5 VProp。Delay @ Nom-Sup：15 ns
传播延迟（tpd）：15 ns认证状态：Not Qualified
座面最大高度：1.905 mm子类别：FF/Latches
最大供电电压 (Vsup)：5.5 V最小供电电压 (Vsup)：4.5 V
标称供电电压 (Vsup)：5 V表面贴装：YES
技术：CMOS温度等级：MILITARY
端子面层：Tin/Lead (Sn/Pb)端子形式：NO LEAD
端子节距：1.27 mm端子位置：QUAD
处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIED触发器类型：POSITIVE EDGE
宽度：8.89 mmBase Number Matches：1

5962-9221503MRA 数据手册

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CY54/74FCT273T  
Maximum Ratings[2, 3]  
Operating Range  
(Above which the useful life may be impaired. For user guide-  
lines, not tested.)  
Ambient  
Range  
Range  
Temperature  
–40°C to +85°C  
–55°C to +125°C  
VCC  
Storage Temperature .....................................−65°C to +150°C  
Commercial All  
Military[4]  
5V ± 5%  
5V ± 10%  
Ambient Temperature with  
Power Applied..................................................−65°C to +135°C  
All  
Supply Voltage to Ground Potential..................−0.5V to +7.0V  
DC Input Voltage .................................................−0.5V to +7.0V  
DC Output Voltage ..............................................−0.5V to +7.0V  
DC Output Current (Maximum Sink Current/Pin).......120 mA  
Power Dissipation ..........................................................0.5W  
Static Discharge Voltage............................................>2001V  
(per MIL-STD-883, Method 3015)  
Electrical Characteristics Over the Operating Range  
Parameter  
Description  
Test Conditions  
VCC=Min., IOH=–32 mA  
Min.  
2.0  
Typ.[5]  
Max.  
Unit  
V
VOH  
Output HIGH Voltage  
Com’l  
Com’l  
Mil  
VCC=Min., IOH=–15 mA  
VCC=Min., IOH=–12 mA  
VCC=Min., IOL=64 mA  
VCC=Min., IOL=32mA  
2.4  
3.3  
3.3  
0.3  
0.3  
V
2.4  
V
VOL  
Output LOW Voltage  
Com’l  
Mil  
0.55  
0.55  
V
V
VIH  
VIL  
VH  
VIK  
II  
Input HIGH Voltage  
Input LOW Voltage  
Hysteresis[6]  
2.0  
V
0.8  
V
All inputs  
0.2  
V
Input Clamp Diode Voltage  
Input HIGH Current  
Input HIGH Current  
Input LOW Current  
VCC=Min., IIN=–18 mA  
VCC=Max., VIN=VCC  
VCC=Max., VIN=2.7V  
VCC=Max., VIN=0.5V  
–0.7  
–1.2  
5
V
µA  
µA  
µA  
mA  
µA  
IIH  
±1  
IIL  
±1  
IOS  
IOFF  
Output Short Circuit Current[7] VCC=Max., VOUT=0.0V  
–60  
–120  
–225  
±1  
Power-Off Disable  
VCC=0V, VOUT=4.5V  
Capacitance[6]  
Parameter  
Description  
Typ.[5]  
Max.  
10  
Unit  
CIN  
Input Capacitance  
Output Capacitance  
5
9
pF  
pF  
COUT  
12  
Notes:  
2. Unless otherwise noted, these limits are over the operating free-air temperature range.  
3. Unused inputs must always be connected to an appropriate logic voltage level, preferably either VCC or ground.  
4. TA is the “instant on” case temperature  
5. Typical values are at VCC=5.0V, TA=+25˚C ambient.  
6. This parameter is specified but not tested.  
7. Not more than one output should be shorted at a time. Duration of short should not exceed one second. The use of high-speed test apparatus and/or sample  
and hold techniques are preferable in order to minimize internal chip heating and more accurately reflect operational values. Otherwise prolonged shorting of  
a high output may raise the chip temperature well above normal and thereby cause invalid readings in other parametric tests. In any sequence of parameter  
tests, IOS tests should be performed last.  
2
1234567

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