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54ACTQ10D

更新时间: 2024-02-07 14:59:43
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美国国家半导体 - NSC
页数 文件大小 规格书
5页 110K
描述
Quiet Series Triple 3-Input NAND Gate

54ACTQ10D 技术参数

生命周期:Obsolete零件包装代码:DIE
包装说明:DIE,Reach Compliance Code:unknown
HTS代码:8542.39.00.01风险等级:5.75
系列:ACTJESD-30 代码:X-XUUC-N
逻辑集成电路类型:NAND GATE功能数量:3
输入次数:3最高工作温度:125 °C
最低工作温度:-55 °C封装主体材料:UNSPECIFIED
封装代码:DIE封装形状:UNSPECIFIED
封装形式:UNCASED CHIP传播延迟(tpd):9.5 ns
认证状态:Not Qualified最大供电电压 (Vsup):5.5 V
最小供电电压 (Vsup):4.5 V标称供电电压 (Vsup):5 V
表面贴装:YES技术:CMOS
温度等级:MILITARY端子形式:NO LEAD
端子位置:UPPERBase Number Matches:1

54ACTQ10D 数据手册

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DC Characteristics for ’ACTQ Family Devices (Continued)  
54ACTQ  
=
Symbol  
Parameter  
VCC  
(V)  
TA  
Units  
Conditions  
−55˚C to +125˚C  
Guaranteed Limits  
1.5  
VOLP  
Quiet Output  
5.0  
5.0  
V
V
Maximum Dynamic VOL  
Quiet Output  
(Note 6)  
VOLV  
-1.2  
Minimum Dynamic VOL  
(Note 6)  
Note 3: All outputs loaded; thresholds on input associated with output under test.  
Note 4: Maximum test duration 2.0 ms, one output loaded at a time.  
@ @  
for 54ACTQ 25˚C is identical to 74ACTQ 25˚C.  
Note 5:  
I
CC  
Note 6: Max number of outputs defined as (n). Data inputs are 0V to 3V. One output GND.  
Note 7: Max number of data inputs (n) switching. (n-1) inputs switching 0V to 3V (’ACTQ). Input-under-test switching: 3V to threshold (V  
@
), 0V to threshold (V ),  
IHD  
ILD  
=
f
1 MHZ.  
AC Electrical Characteristics  
54ACTQ  
=
VCC  
TA −55˚C  
Symbol  
Parameter  
to +125˚C  
Units  
(V)  
=
(Note 8)  
CL 50 pF  
Min  
2.0  
2.0  
Max  
9.5  
tPLH  
tPHL  
Propagation Delay  
Propagation Delay  
5.0  
5.0  
ns  
ns  
9.5  
±
Note 8: Voltage Range 5.0 is 5.0V 0.5V.  
Capacitance  
Symbol  
Parameter  
Input Capacitance  
Power Dissipation  
Capacitance  
Typ  
Units  
pF  
Conditions  
=
VCC OPEN  
CIN  
CPD  
4.5  
85  
=
VCC 5.0V  
pF  
3
www.national.com  

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