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27C010TRT1FI-20

更新时间： 2024-01-05 09:04:44

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麦斯威 - MAXWELL		存储内存集成电路可编程只读存储器 OTP只读存储器电动程控只读存储器
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1 Megabit (128K x 8-Bit) - OTP EPROM

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27C010TRT1FI-20 技术参数

是否Rohs认证：	不符合	生命周期：	Transferred
零件包装代码：	QFP	包装说明：	QFF,
针数：	32	Reach Compliance Code：	unknown
ECCN代码：	EAR99	HTS代码：	8542.32.00.71
风险等级：	5.02	Is Samacsys：	N
最长访问时间：	200 ns	JESD-30 代码：	R-XQFP-F32
长度：	20.828 mm	内存密度：	1048576 bit
内存集成电路类型：	OTP ROM	内存宽度：	8
功能数量：	1	端子数量：	32
字数：	131072 words	字数代码：	128000
工作模式：	ASYNCHRONOUS	最高工作温度：	125 °C
最低工作温度：	-55 °C	组织：	128KX8
封装主体材料：	UNSPECIFIED	封装代码：	QFF
封装形状：	RECTANGULAR	封装形式：	FLATPACK
并行/串行：	PARALLEL	认证状态：	Not Qualified
座面最大高度：	5.588 mm	最大供电电压 (Vsup)：	5.5 V
最小供电电压 (Vsup)：	4.5 V	标称供电电压 (Vsup)：	5 V
表面贴装：	YES	技术：	CMOS
温度等级：	MILITARY	端子形式：	FLAT
端子节距：	1.27 mm	端子位置：	QUAD
总剂量：	100k Rad(Si) V	宽度：	12.192 mm
Base Number Matches：	1

27C010TRT1FI-20 数据手册

27C010T

1 Megabit (128K x 8-Bit) - OTP EPROM

TABLE 7. 27C010T AC ELECTRICAL CHARACTERISTICS FOR READ OPERATION

(V_CC= 5V ± 10%, V_PP= V_SS, T_A= -55 TO +125 ^°C, UNLESS OTHERWISE SPECIFIED)

P^ARAMETER

TEST CONDITION

SYMBOL

SUB GROUPS

MIN

MAX

UNIT

Address Access Time

CE = OE = V_IL

t_ACC

9, 10, 11

- 120

- 150

- 200

120

150

200

Chip Enable Access Time

OE = V_IL

t_CE

t_OE

t_OH

t_DF

9, 10, 11

- 120

- 150

- 200

120

150

200

Output Enable Access TIme

CE = V_IL

- 120

- 150

- 200

Output Hold to Address Change

CE = V_IL

- 120

- 150

- 200

Output Disable to High-Z ²

CE = OE = V_IL

- 120

- 150

- 200

1. Test conditions:

- Input pulse levels 0.45V/2.4V

- Input rise and fall times < 10 ns

- Output load 1 TTL gate + 100 pF (including scope and jig)

- Referenced levels for measuring timing 0.8V/2.0V

2. t_DFis defined as the time at which the output becomes an open circuit and data is no longer driven.

12.12.01 Rev 2

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