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GCM1555C2AR30WE02#

更新时间： 2024-04-09 18:59:30

品牌	Logo	应用领域
村田 - MURATA		医疗医疗器械
页数	文件大小	规格书
32页	1808K
描述
汽车[动力总成 / 安全设备],汽车[信息娱乐 / 舒适设备],植入式以外的医疗器械设备 [GHTF A/B/C]

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■ Specifications and Test Methods

No Item

Specification

Test Method（Compliant Standard:AEC-Q200）

1 Pre-and Post-Stress

Electrical Test

Appearance

Capacitance Change

Q or D.F.

No defects or abnormalities.

Within +/-0.1pF

Q≧200+10C C:Nominal Capacitance(pF)

More than 10000MΩ

Mounting method

Test Temperature

Test Time

Solder the capacitor on the test substrate

150+/-3℃

1000+/-12h

2 High Temperature

Exposure (Storage)

I.R.(Room Temp.)

Post-treatment

Non treatment:Let sit for 24+/-2hours at room temperature, then measure.

Appearance

Capacitance Change

Q or D.F.

No defects or abnormalities.

Within +/-0.1pF

Within the specified initial value.

Mounting method

Cycles

Temperature Cycling

Solder the capacitor on the test substrate

1000cycles

3 Temperature Cycling

I.R.(Room Temp.)

Post-treatment

Per EIA-469

Non treatment:Let sit for 24+/-2hours at room temperature, then measure.

Appearance

No defects or abnormalities.

4 Destructive Physical

Analysis

Appearance

Capacitance Change

Q or D.F.

No defects or abnormalities.

Within +/-0.1pF

Q≧200+10C C:Nominal Capacitance(pF)

More than 10000MΩ

Mounting method

Test Temperature

Test Humidity

Solder the capacitor on the test substrate

+25℃ to +65℃

80%RH to 98%RH

5 Moisture Resistance

I.R.(Room Temp.)

Test Time

Apply the 24h treatment shown below, 10 consecutive times.

Temperature and Humidity cycle

Post-treatment

Non treatment:Let sit for 24+/-2hours at room temperature, then measure.

GCM1555C2AR30WE02-01A

1 234 5 6 7...32

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