DS2174

更新时间： 2024-02-29 05:42:53

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EBERT

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DS2174 技术参数

是否无铅：	不含铅	是否Rohs认证：	符合
生命周期：	Obsolete	零件包装代码：	LCC
包装说明：	QCCJ, LDCC44,.7SQ	针数：	44
Reach Compliance Code：	compliant	HTS代码：	8542.39.00.01
风险等级：	5.68	JESD-30 代码：	S-PQCC-J44
JESD-609代码：	e3	长度：	16.585 mm
湿度敏感等级：	3	功能数量：	1
端子数量：	44	最高工作温度：	85 °C
最低工作温度：	-40 °C	封装主体材料：	PLASTIC/EPOXY
封装代码：	QCCJ	封装等效代码：	LDCC44,.7SQ
封装形状：	SQUARE	封装形式：	CHIP CARRIER
峰值回流温度（摄氏度）：	260	电源：	3.3 V
认证状态：	Not Qualified	座面最大高度：	4.57 mm
子类别：	Other Telecom ICs	最大压摆率：	0.06 mA
标称供电电压：	3.3 V	表面贴装：	YES
电信集成电路类型：	TELECOM CIRCUIT	温度等级：	INDUSTRIAL
端子面层：	Matte Tin (Sn)	端子形式：	J BEND
端子节距：	1.27 mm	端子位置：	QUAD
处于峰值回流温度下的最长时间：	NOT SPECIFIED	宽度：	16.585 mm
Base Number Matches：	1

DS2174 数据手册

DS2174

EBERT

www.maxim-ic.com

FEATURES

PIN ASSIGNMENT

§ Generates and detects digital patterns for

analyzing and trouble-shooting digital

communications systems

§ Programmable polynomial length and

feedback taps for generation of any

pseudorandom patterns up to 2³²- 1; up to 32

taps can be used in the feedback path

§ Programmable, user-defined pattern registers

for long repetitive patterns up to 512 bytes in

length

§ Large 48-bit count and bit error count registers

§ Software-programmable bit error insertion

§ Fully independent transmit and receive paths

§ 8-bit parallel-control port

RDAT3

RDAT4

RDAT5

RDAT6 10

RDAT7 11

GND 12

A0 13

39 D2

38 D1

37 D0

36 TDAT7

35 TDAT6

34 GND

33 TDAT5

32 TDAT4

31 TDAT3

30 TDAT2

29 GND

DS2174

A1 14

A2 15

A3 16

CS 17

§ Detects polynomial test patterns in the

presence of bit error rates up to 10^-2

§ Programmable for serial, 4-bit parallel, or 8-bit

parallel data interfaces

§ Serial mode clock rate is 155MHz; byte mode

is 80MHz for a net 622Mbps; OC-3

APPLICATIONS

§ Routers

§ Channel Service Units (CSUs)

§ Data Service Units (DSUs)

§ Muxes

§ Switches

§ Digital-to-Analog Converters (DACs)

§ CPE Equipment

Available in 44-pin PLCC

ORDERING INFORMATION

DS2174Q

44-Pin PLCC 0°C to +70°C

DS2174QN 44-Pin PLCC -40°C to +85°C

§ Bridges

§ Smart Jack

DESCRIPTION

The DS2174 enhanced bit error rate tester (EBERT) is a software-programmable test-pattern generator,

receiver, and analyzer capable of meeting the most stringent error-performance requirements of digital

transmission facilities. It features bit-serial, nibble-parallel, and byte-parallel data interfaces, and

generates and uniquely synchronizes to pseudorandom patterns of the form 2ⁿ- 1, where n can take on

values from 1 to 32, and user-defined repetitive patterns of any length up to 512 octets.

Note: Some revisions of this device may incorporate deviations from published specifications known as errata. Multiple

revisions of any device may be simultaneously available through various sales channels. For information about device errata,

click here: http://www.maxim-ic.com/errata.

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