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CBF100505D601T

更新时间： 2024-04-09 18:57:57
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风华高科 - FH /
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描述
叠层片式铁氧体高频磁珠 (CBF)

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CBF100505D601T 数据手册

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MULTILAVER CHIP FERRITE BEADS  
◆可靠性测试方法  
Reliability Test Method  
序号  
项目  
要求  
试验方法及备注  
No.  
Items  
Requirements  
Test Methods and Remarks  
温度125℃；  
不通电；  
持续时间1000h；  
无可见损伤；  
周期测试250h,500h；  
试验结束后 (24±4)h 内进行电性能测量。  
Temperature 125℃;  
高温存储  
阻抗：△Z/Z ≤ ±30%。  
No Visible damage；  
1
High Temperature  
Exposure (Storage)  
Impedance：△Z/Z≤ ±30%  
Unpowered;  
Duration 1000h;  
Examination at 250h ,500h and 1000h;  
Measurement at (24±4) hours after test conclusion.  
高温125℃；低温-40℃；  
高、低温下暴露时间各30分钟；  
转换时间≤1min；  
循环次数1000次。  
无可见损伤；  
温度循环  
Temperature  
Cycling  
试验结束后24±4小时内进行测试。  
High Temperature +125℃;low temperature -40℃;  
Duration at each temperature 30 min;  
Transition time ≤ 1 min.  
阻抗：△Z/Z ≤ ±30%。  
No Visible damage；  
Impedance：△Z/Z ≤±30%  
2
Severity 1000 cycles;  
Measurement at 24±4 hours after test  
conclusion.  
温度85℃；湿度85RH%；  
持续时间1000小时，不通电。周期测量250小时、500小时。  
试验结束后24±4小时内进行测试。  
无可见损伤；  
偏高湿度(高温高湿) 阻抗：△Z/Z ≤±30%。  
3
Temperature 85℃;Relative humidity 85%;  
Duration 1000 h; Unpowered. Examination at 250h ,500h  
and 1000h;  
Biased Humidity  
No Visible damage；  
Impedance：△Z/Z ≤ ±30%  
Measurement at 24±4 hours after test conclusion.  
温度125℃；  
施加电流：常温额定电流的1/2；  
持续时间：1000小时。  
无可见损伤；  
工作寿命  
阻抗：△Z/Z ≤ ±30%。  
No Visible damage；  
Impedance：△Z/Z ≤±30%  
试验结束后24±4小时内进行测试。  
Temperature 125℃;  
4
Operational Life  
Test current: half of Rated current at normal temperature；  
Duration 1000 h;  
Measurement at 24±4 hours after test conclusion.  
正半弦波；  
峰值加速度100g；  
脉冲持续时间6ms；  
无可见损伤；  
三轴六向各 3 次，共 18 次。  
Half sine wave.  
机械冲击  
阻抗：△Z/Z≤ ±30%。  
No Visible damage；  
Impedance：△Z/Z ≤±30%  
5
Mechanical Shock  
Peak value 100g.  
Normal duration 6 ms;  
Three shocks in each direction shall be applied along the  
three mutually perpendicular axes of the test specimen (18  
shocks)  
3
1234567

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