CHIP RESISTOR
注5:U=
参考值,使用时需在实际机器上确认。
Note5:U or maximum overload voltage (whichever is smaller), where P refers to the single
或最大过负荷电压(取较小值),此处的P指上述单脉冲曲线相对应的单脉冲限制功率;本数据为
=
pulse limited power corresponding to the above single pulse curve; This data is a reference value,
which needs to be confirmed on the actual machine.
标 准
Specifications
项目
测试方法
Item
跨接电阻
Jumper
片式电阻器
Resistor
Test Methods
无可见损伤
No mechanical damage
无可见损伤
No mechanical damage
高温存储
High
Temperature
Exposure
(Storage)
AEC-Q200 Test 3 /MIL-STD-202 Method 108
1000小时 @ T=155℃,不通电。
1000 hrs. @ T=155℃. Unpowered.
F
级:0201
0402及以上
0201
0402及以上
:R≤70 mΩ
0.5%
、1%:
:
R≤20 m
Ω
Ω
Ω
△R
≤±(1.0%R
+
0.05
Ω
Ω
)
)
G
级
:
:R≤80 m
5%
:
:
R≤
40 m
100 m
无可见损伤
No mechanical damage
△R≤±(2.0%R
+
0.05
J
级
:R
≤
Ω
无可见损伤
No mechanical damage
AEC-Q200 Test 4/JESD22 Method JA-104
-55℃(30分钟)~常温(≤1分钟)~155℃(30分钟),1000
循环。
温度循环
Temperature
Cycling
F
级:0201
0402及以上
0201
0402及以上
:R≤70 mΩ
个
0.5% 1%:
、
:R
≤20 m
Ω
Ω
Ω
△R
≤±(0.5%R+0.05
Ω
Ω
)
)
G
级
:
:R≤80 m
-55℃(30min)~normal temperature(≤1min)~
155℃(30min),1000 cycles.
5%
:
:R
≤40 m
△R≤±(1.0%R+0.05
J
级
:
R≤
100 m
Ω
无可见损伤
No mechanical damage AEC-Q200 Test 7/ MIL-STD-202 Method 103
级:0201 70 m
0402及以上
0201
0402及以上
无可见损伤
No mechanical damage
△R≤±(3.0%R+0.05Ω)
F
:
:
R
R
≤
≤
Ω
高温高湿
Biased Humidity
温度85℃,湿度85%,10%额定功率(电流),放置1000
小时。
20 mΩ
G
级
:
:R≤80 m
:
Ω
85 /85%RH. Apply 10% of operating power
℃
R
≤
40 mΩ
(current) for1000 hours,
J级
:R
≤
100 m
Ω
AEC-Q200 Test 8/ MIL-STD-202 Method 108
125℃±2℃,1000小时,36% 额定功率(电流)下的电压
值或元件极限电压 (取较小值),通1.5小时/断0.5小时。
125℃±2℃,1000h,36% of rated power or limiting
element voltage whichever is lower for 1.5h
ON/0.5h OFF.
无可见损伤
No mechanical damage
无可见损伤
No mechanical damage
0.5% 1%
工作寿命
Operational Life
F
级:0201
0402及以上
0201
0402及以上
:R≤70 mΩ
、
:
:
R≤20 mΩ
△R
≤±(1.0%R
+
0.05Ω
)
G
级
:
:R≤80 m
Ω
Ω
5%
:
:
R≤40 m
△R≤±(3.0%R
+
0.05Ω
)
J级
:R
≤
100 m
Ω
5