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ADUM3211WARZ

更新时间： 2024-02-05 12:57:49
品牌 Logo 应用领域
亚德诺 - ADI /
页数 文件大小 规格书
20页 377K
描述
Dual-Channel Digital Isolators, Enhanced System-Level ESD Reliability

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ADUM3211WARZ 技术参数

Source Url Status Check Date：2013-05-01 14:56:50.594是否无铅： 含铅
是否Rohs认证： 符合生命周期：Active
零件包装代码：SOIC包装说明：SOP,
针数：8Reach Compliance Code：compliant
ECCN代码：EAR99HTS代码：8542.39.00.01
风险等级：2.12接口集成电路类型：INTERFACE CIRCUIT
JESD-30 代码：R-PDSO-G8JESD-609代码：e3
长度：4.9 mm湿度敏感等级：3
功能数量：2端子数量：8
封装主体材料：PLASTIC/EPOXY封装代码：SOP
封装形状：RECTANGULAR封装形式：SMALL OUTLINE
峰值回流温度（摄氏度）：260座面最大高度：1.75 mm
表面贴装：YES技术：CMOS
温度等级：AUTOMOTIVE端子面层：MATTE TIN
端子形式：GULL WING端子节距：1.27 mm
端子位置：DUAL处于峰值回流温度下的最长时间：30
宽度：3.9 mmBase Number Matches：1

ADUM3211WARZ 数据手册

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ADuM3210/ADuM3211  
Data Sheet  
ELECTRICAL CHARACTERISTICS—MIXED 3 V/5 V, 105°C OPERATION  
All typical specifications are at TA = 25°C, VDD1 = 3 V, VDD2 = 5.0 V. Minimum/maximum specifications apply over the entire  
recommended operation range: ADuM3210 supply voltages 2.7 V ≤ VDD1 ≤ 3.6 V, 4.5 V ≤ VDD2 ≤ 5.5 V; ADuM3211 supply voltages  
3.0 V ≤ VDD1 ≤ 3.6 V, 4.5 V ≤ VDD2 ≤ 5.5 V, and −40°C ≤ TA ≤ +105°C, unless otherwise noted. Switching specifications are tested with  
CL = 15 pF and CMOS signal levels, unless otherwise noted.  
Table 10.  
A Grade  
Typ  
B Grade  
Typ  
Parameter  
Symbol  
Min  
Max  
Min  
Max  
Unit  
Test Conditions  
SWITCHING SPECIFICATIONS  
Data Rate  
Propagation Delay  
Pulse Width Distortion  
ADuM3210  
1
55  
10  
55  
Mbps  
ns  
Within PWD limit  
50% input to 50% output  
tPHL, tPLH  
PWD  
15  
15  
5
6
3
4
ns  
ns  
|tPLH − tPHL  
|tPLH − tPHL  
|
|
ADuM3211  
Change vs. Temperature  
Pulse Width  
ADuM3210  
6
5
ps/°C  
PW  
tPSK  
Within PWD limit  
1000  
1000  
22  
33  
ns  
ns  
ns  
ADuM3211  
Propagation Delay Skew  
Channel Matching  
Codirectional  
Opposing-Direction  
Output Rise/Fall Time  
29  
20  
Between any two units  
tPSKCD  
tPSKOD  
tR/tF  
15  
29  
3
22  
ns  
ns  
ns  
2.5  
2.5  
10% to 90%  
Table 11.  
1 Mbps—A Grade, B Grade  
10 Mbps—B Grade  
Parameter  
Symbol  
Unit  
Test Conditions  
Min  
Typ  
Max  
Min  
Typ  
Max  
SUPPLY CURRENT  
ADuM3210  
IDD1  
IDD2  
IDD1  
IDD2  
0.8  
1.0  
0.7  
1.3  
1.3  
1.6  
1.3  
1.8  
2.0  
1.7  
1.5  
3.1  
3.2  
2.8  
2.1  
4.0  
mA  
mA  
mA  
mA  
ADuM3211  
Table 12. For All Models  
Parameter  
Symbol  
Min  
Typ  
Max  
Unit  
Test Conditions  
DC SPECIFICATIONS  
Logic High Input Threshold  
Logic Low Input Threshold  
Logic High Output Voltages  
VIH  
VIL  
VOH  
0.7 VDDX  
V
V
V
V
V
V
μA  
0.3 VDDX  
VDDX − 0. 1  
VDDX − 0.5  
VDDX  
VDDX − 0.2  
0.0  
0.2  
+0.01  
IOx = −20 μA, VIx = VIxH  
IOx = −4 mA, VIx = VIxH  
IOx = 20 μA, VIx = VIxL  
IOx = 4 mA, VIx = VIxL  
0 V ≤ VIx ≤ VDDX  
Logic Low Output Voltages  
VOL  
II  
0.1  
0.4  
+10  
Input Current per Channel  
Supply Current per Channel  
Quiescent Input Supply Current  
Quiescent Output Supply Current  
Dynamic Input Supply Current  
Dynamic Output Supply Current  
−10  
IDDI(Q)  
IDDO(Q)  
IDDI(D)  
IDDO(D)  
0.4  
0.5  
0.10  
0.05  
0.8  
0.8  
mA  
mA  
mA/Mbps  
mA/Mbps  
AC SPECIFICATIONS  
Common-Mode Transient Immunity1  
Refresh Rate  
|CM|  
fr  
25  
35  
kV/μs  
Mbps  
VIx = VDDX, VCM = 1000 V,  
transient magnitude = 800 V  
1.1  
1 |CM| is the maximum common-mode voltage slew rate that can be sustained while maintaining VO > 0.8 VDD. The common-mode voltage slew rates apply to both  
rising and falling common-mode voltage edges.  
Rev. E | Page 6 of 20  
 
 
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