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AD8284WCSVZ-RL

更新时间： 2024-02-24 21:23:23

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亚德诺 - ADI		/
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29页	685K
描述
Radar Receive Path AFE: 4-Channel MUX with LNA, PGA, AAF, and ADC

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技术参数
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AD8284WCSVZ-RL 技术参数

是否无铅：	含铅	是否Rohs认证：	符合
生命周期：	Active	零件包装代码：	QFP
包装说明：	HTFQFP,	针数：	64
Reach Compliance Code：	compliant	ECCN代码：	EAR99
HTS代码：	8542.39.00.01	风险等级：	5.57
其他特性：	ALSO OPERATES WITH SUPPLY VOLTAGE 3.1 TO 3.5V	模拟集成电路 - 其他类型：	ANALOG CIRCUIT
JESD-30 代码：	S-PQFP-G64	长度：	10 mm
湿度敏感等级：	3	功能数量：	1
端子数量：	64	最高工作温度：	105 °C
最低工作温度：	-40 °C	封装主体材料：	PLASTIC/EPOXY
封装代码：	HTFQFP	封装形状：	SQUARE
封装形式：	FLATPACK, HEAT SINK/SLUG, THIN PROFILE, FINE PITCH	峰值回流温度（摄氏度）：	260
座面最大高度：	1.2 mm	最大供电电压 (Vsup)：	1.9 V
最小供电电压 (Vsup)：	1.7 V	标称供电电压 (Vsup)：	1.8 V
表面贴装：	YES	技术：	CMOS
温度等级：	INDUSTRIAL	端子形式：	GULL WING
端子节距：	0.5 mm	端子位置：	QUAD
处于峰值回流温度下的最长时间：	30	宽度：	10 mm
Base Number Matches：	1

AD8284WCSVZ-RL 数据手册

Data Sheet

AD8284

DIGITAL SPECIFICATIONS

AVDD18x = 1.8 V, AVDD33x = 3.3 V, DVDD18x = 1.8 V, DVDD33x = 3.3 V, 1.00 V internal ADC reference, f_IN= 2.5 MHz, f_S= 60 MSPS,

R_S= 50 Ω, LNA + PGA gain = 35 dB, LPF cutoff = f_SAMPLECH/4, 12-bit operation, temperature = −40°C to +105°C, all specifications

guaranteed by testing, unless otherwise noted.

Table 3.

Parameter¹

CLOCK INPUTS (CLK+, CLK−)²

Temperature

Min

Typ

Max

Unit

Logic Compliance

CMOS/LVDS/LVPECL

Differential Input Voltage³

Input Common-Mode Voltage

Input Resistance (Differential)

Input Capacitance

Full

25°C

250

mV p-p

kΩ

1.2

1.5

LOGIC INPUTS (PDWN, SCLK, AUX, MUX[0], MUX[1], ZSEL)²

Logic 1 Voltage

Logic 0 Voltage

Input Resistance

Input Capacitance

Full

25°C

1.2

3.6

0.3

kΩ

0.5

LOGIC INPUT (CS)²

Logic 1 Voltage

Full

3.6

Logic 0 Voltage

Full

0.3

Input Resistance

Input Capacitance

25°C

0.5

kΩ

LOGIC INPUT (SDI)²

Logic 1 Voltage

Logic 0 Voltage

Full

1.2

DVDD33x + 0.3

0.3

Input Resistance

Input Capacitance

25°C

kΩ

LOGIC OUTPUT (SDO)

Logic 1 Voltage (I_OH= 800 μA)

Logic 0 Voltage (I_OL= 50 μA)

LOGIC OUTPUTS (D11 to D0, SFLAG)

Logic 1 Voltage (I_OH= 2 mA)

Logic 0 Voltage (I_OL= 2 mA)

Full

3.0

0.3

Full

¹See the AN-835 Application Note, Understanding High Speed ADC Testing and Evaluation, for a complete set of definitions and testing methodology.

²Guaranteed by design only.

³Specified for LVDS and LVPECL only.

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