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5962-8865002RA

更新时间： 2024-01-26 00:02:37

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5页	26K
描述
ADC, Flash Method, 8-Bit, 1 Func, 1 Channel, Parallel, 8 Bits Access, CMOS, CDIP20, CERAMIC, DIP-20

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5962-8865002RA 技术参数

是否无铅：	含铅	是否Rohs认证：	不符合
生命周期：	Obsolete	零件包装代码：	DIP
包装说明：	CERAMIC, DIP-20	针数：	20
Reach Compliance Code：	not_compliant	ECCN代码：	3A001.A.2.C
HTS代码：	8542.39.00.01	风险等级：	5.03
最大模拟输入电压：	5 V	最小模拟输入电压：
最长转换时间：	2.5 µs	转换器类型：	ADC, FLASH METHOD
JESD-30 代码：	R-GDIP-T20	JESD-609代码：	e0
最大线性误差 (EL)：	0.3906%	湿度敏感等级：	1
模拟输入通道数量：	1	位数：	8
功能数量：	1	端子数量：	20
最高工作温度：	125 °C	最低工作温度：	-55 °C
输出位码：	BINARY	输出格式：	PARALLEL, 8 BITS
封装主体材料：	CERAMIC, GLASS-SEALED	封装代码：	DIP
封装等效代码：	DIP20,.3	封装形状：	RECTANGULAR
封装形式：	IN-LINE	峰值回流温度（摄氏度）：	240
电源：	5 V	认证状态：	Not Qualified
采样并保持/跟踪并保持：	TRACK	筛选级别：	MIL-STD-883
子类别：	Analog to Digital Converters	标称供电电压：	5 V
表面贴装：	NO	技术：	CMOS
温度等级：	MILITARY	端子面层：	Tin/Lead (Sn/Pb)
端子形式：	THROUGH-HOLE	端子节距：	2.54 mm
端子位置：	DUAL	处于峰值回流温度下的最长时间：	20
Base Number Matches：	1

5962-8865002RA 数据手册

QUALITY ASSURANCE

Sampling and inspection procedures shall be in accordance with MIL-Prf-38535, Appendix A as specified in Mil-

Std-883.

Screening shall be in accordance with Method 5004 of Mil-Std-883. Burn-in test Method 1015:

1. Test Condition, A, B, C, or D.

2. TA = +125°C minimum.

3. Interim and final electrical test requirements shall be specified in Table 2.

Quality conformance inspection shall be in accordance with Method 5005 of Mil-Std-883, including Groups A, B,

C, and D inspection.

Group A inspection:

1. Tests as specified in Table 2.

2. Selected subgroups in Table 1, Method 5005 of Mil-Std-883 shall be omitted.

Group C and D inspections:

a. End-point electrical parameters shall be specified in Table 1.

b. Steady-state life test, Method 1005 of Mil-Std-883:

1. Test condition A, B, C, D.

2. TA = +125°C, minimum.

3. Test duration, 1000 hours, except as permitted by Method 1005 of Mil-Std-883.

TABLE 2.

ELECTRICAL TEST REQUIREMENTS

Mil-Std-883 Test Requirements

Subgroups

per Method 5005, Table 1

Interim Electric Parameters

Method 5004

Final Electrical Parameters

Method 5005

1*, 2, 3, 4**, 9, 10, 11***

Group A Test Requirements

Method 5005

Group C and D End-Point Electrical Parameters

Method 5005

1, 2, 3, 4**, 9, 10, 11***

PDA applies to Subgroup 1 only.

** Subgroup 4, Capacitance tests are performed at initial qual and upon redesign.

Sample size will be 116 units.

*** Subgroups 10 and 11 if not tested, are guaranteed to the limits specified in Table 1.

----------------------------

Electrical Characteristics of MX7820/883B

for /883B and SMD 5962-88650

19-0072

Page 6 of

Rev. C

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型号	品牌	描述	获取价格	数据表
5962-8865002RX	ADI	IC 1-CH 8-BIT FLASH METHOD ADC, PARALLEL ACCESS, CDIP20, 1.060 X 0.310 INCH, CERDIP-20, An	获取价格
5962-88651012A	ETC	8-Bit D-Type Latch	获取价格
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