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100363DM-MLS

更新时间： 2024-02-07 06:09:44
品牌 Logo 应用领域
德州仪器 - TI 输出元件逻辑集成电路
页数 文件大小 规格书
10页 272K
描述
100K SERIES, DUAL 8 LINE TO 1 LINE MULTIPLEXER, TRUE OUTPUT, CDIP24, CERDIP-24

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100363DM-MLS 技术参数

是否Rohs认证： 不符合生命周期：Obsolete
包装说明：DIP, DIP24,.4Reach Compliance Code：compliant
HTS代码：8542.39.00.01风险等级：5.32
系列：100KJESD-30 代码：R-GDIP-T24
JESD-609代码：e0逻辑集成电路类型：MULTIPLEXER
湿度敏感等级：1功能数量：2
输入次数：8输出次数：1
端子数量：24最高工作温度：125 °C
最低工作温度：-55 °C输出极性：TRUE
封装主体材料：CERAMIC, GLASS-SEALED封装代码：DIP
封装等效代码：DIP24,.4封装形状：RECTANGULAR
封装形式：IN-LINE包装方法：RAIL
峰值回流温度（摄氏度）：260电源：-4.5 V
最大电源电流（ICC）：87 mAProp。Delay @ Nom-Sup：3 ns
传播延迟（tpd）：3 ns认证状态：Not Qualified
座面最大高度：5.72 mm子类别：Multiplexer/Demultiplexers
表面贴装：NO技术：ECL
温度等级：MILITARY端子面层：Tin/Lead (Sn63Pb37)
端子形式：THROUGH-HOLE端子节距：2.54 mm
端子位置：DUAL处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIED
宽度：10.16 mmBase Number Matches：1

100363DM-MLS 数据手册

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Absolute Maximum Ratings (Note 1)  
ESD (Note 2)  
≥2000V  
If Military/Aerospace specified devices are required,  
please contact the National Semiconductor Sales Office/  
Distributors for availability and specifications.  
Recommended Operating  
Conditions  
Case Temperature (TC)  
Military  
Above which the useful life may be impared  
Storage Temperature (TSTG  
)
−65˚C to +150˚C  
−55˚C to +125˚C  
−5.7V to −4.2V  
Maximum Junction Temperature (TJ)  
Ceramic  
Supply Voltage (VEE  
)
+175˚C  
−7.0V to +0.5V  
VEE to + 0.5V  
−50 mA  
Note 1: Absolute maximum ratings are those values beyond which the de-  
vice may be damaged or have its useful life impaired. Functional operation  
under these conditions is not implied.  
VEE Pin Potential to Ground Pin  
Input Voltage (DC)  
Note 2: ESD testing conforms to MIL-STD-883, Method 3015.  
Output Current (DC Output HIGH)  
Military Version  
DC Electrical Characteristics  
=
=
=
=
−55˚C to +125˚C  
C
VEE −4.2V to −5.7V, VCC VCCA GND, T  
Symbol  
Parameter  
Min  
Max Units  
TC  
Conditions  
Note  
VOH  
Output HIGH Voltage −1025 −870  
mV  
0˚C to  
+125˚C  
−55˚C  
0˚C to  
+125˚C  
−55˚C  
0˚C to  
+125˚C  
−55˚C  
0˚C to  
+125˚C  
−55˚C  
−55˚C to  
=
−1085 −870  
mV  
mV  
VIN VIH (Max)  
Loading with  
(Notes 3, 4, 5)  
VOL  
Output LOW Voltage −1830 −1620  
or VIL (Min)  
50Ω to −2.0V  
−1830 −1555  
mV  
mV  
VOHC  
VOLC  
VIH  
Output HIGH Voltage −1035  
=
−1085  
mV  
mV  
VIN VIH (Min)  
Loading with  
(Notes 3, 4, 5)  
Output LOW Voltage  
Input HIGH Voltage  
−1610  
or VIL (Max)  
50Ω to −2.0V  
−1555  
mV  
mV  
Guaranteed HIGH Signal for All  
Inputs  
−1165 −870  
(Notes 3, 4, 5, 6)  
+125˚C  
−55˚C to  
+125˚C  
−55˚C to  
+125˚C  
VIL  
Input LOW Voltage  
Input LOW Current  
−1830 −1475  
0.50  
mV  
µA  
Guaranteed LOW Signal for All Inputs (Notes 3, 4, 5, 6)  
=
IIL  
VEE −4.2V  
(Notes 3, 4, 5)  
=
VIN VIL (Min)  
IIH  
Input HIGH Current  
Sn  
An, Bn  
Sn  
265  
340  
385  
490  
µA  
µA  
0˚C to  
+125˚C  
−55˚C  
=
VEE −5.7V  
(Notes 3, 4, 5)  
(Notes 3, 4, 5)  
=
VIN VIH (Max)  
An, Bn  
IEE  
Power Supply  
Current  
−55˚C to  
+125˚C  
Inputs Open  
−87  
−30  
mA  
Note 3: F100K 300 Series cold temperature testing is performed by temperature soaking (to guarantee junction temperature equals −55˚C), then testing immediately  
without allowing for the junction temperature to stabilize due to heat dissipation after power-up. This provides “cold start” specs which can be considered a worst case  
condition at cold temperatures.  
Note 4: Screen tested 100% on each device at −55˚C, +25˚C, and +125˚C, Subgroups 1, 2, 3, 7, and 8.  
Note 5: Sample tested (Method 5005, Table I) on each manufactured lot at −55˚C, +25˚C, and +125˚C, Subgroups A1, 2, 3, 7, and 8.  
Note 6: Guaranteed by applying specified input condition and testing V /V  
.
OH OL  
www.national.com  
4
1234567...10

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