Multilayer and Thick FilmChip Inductors 積層
・
厚
膜チップインダクタ
SOLDERING CONDITIONS/はんだ付け条件
Recommended Pattern
はんだ付け推奨パターン
c
b
a
b
Pattern dimensions (unit; mm)
LL1608 series
Flow soldering Reflow soldering Flow soldering Reflow soldering
LL2012 series
LL1005 & LLP1005 series
Reflow soldering
0.4
LLV0603 series
Reflow soldering
0.25
a
b
c
1.0~1.4
0.8~1.2
0.8~1.0
1.0~1.2
0.6~1.0
0.8~1.2
0.8~1.0
0.8~1.0
0.6~0.8
0.7
0.6~0.8
0.6~0.8
0.4~0.5
0.45~0.55
0.18~0.22
0.30~0.35
• Conditions for soldering temperatures are determined as per figures below after prior confirmation that abnormalities are not
evident.
• はんだ付け温度条件は下図を基準とし事前に「異常がない」ことを確認の上、条件を決めて下さい。
Flow Soldering
Reflow Soldering
Soldering Iron
2s.
7s.
±
250 10°C
240°C
225°C
±
230 5°C
20s.
±
150 10°C
140~170°C
±
80 20°C
80s.
2min.
2min.
Solder iron power
はんだこて容量:18W
2min.
ELECTRICAL CHARACTERISTICS TEST METHOD/電気的特性測定方法
1. INDUCTANCE, Q
1. インダクタンス、 Q
• Test equipment
• Impedance analyzer:
• 使用機器および治具
• 測定器:4291A/B(Agilent): LL1005-FHL, LL1608-FSL,
4291A/B(Agilent):LL1005-FHL, LL1608-FSL, LL2012-FHL,
LLP1005-FH, LLV0603-FB, LLV0603-F,
•Test fixture: 16192A(Agilent): LL1005-FHL, LL1608-FSL,
LL2012-FHL
16196B(Agilent): LLP1005-FH
16196C(Agilent): LLV0603-FB, LLV0603-F
• Test method
• Set measuring frequency read inductance and Q value.
LL2012-FHL, LLP1005-FH,
LLV0603-FB, LLV0603-F
• 治ꢀ具:16192A(Agilent): LL1005-FHL, LL1608-FSL,
LL2012-FHL
16196B(Agilent): LLP1005-FH
16196C(Agilent): LLV0603-FB, LLV0603-F
• 測
• 測定周 波数をセットし、インダクタンス、Qを読み取る。
定方法
2. R
(DC Resistance)
DC
2. RDC (直流抵抗)
• 使用機器および治具の回路
• Test equipment
• 4338A/B(Agilent) or equivalent
• Test method
(1) Place the sample in the test terminals.
(2) Do not place in or pull out the sample while pushing SW.
• 測
定器:4338A/B(Agilent)または相当品
• 測定方法
(1) 端子にチップをセットする。
(2) SWを押した状態でチップを出し入れしてはならない。
DC RESISTANCE
Test Circuit
測
定回路
直
流抵抗計
TESTER
SW
SW
INDUCTOR
供試
コイル
SAMPLE
3. S.R.F.(自己共振周波数)
• 使用機器
3. Self resonance frequency (S.R.F.)
• Test equipment
• 測
8720D(Agilent):13.6GHz~20.0GHzの測定に適用
• 測
• ネットワーク解析によるインピーダンス測定より、誘導性リア
定器:8719D(Agilent):0.5GHz~13.5GHzの測定に適用
• Network Analyzer: 8719D(Agilent):0.5GHz~13.5GHz
8720D(Agilent):13.6GHz~20.0GHz
• Test Method
• Measure the frequency at which the phase of inductive
reactance and capacitive reactance is 0.
定方法
クタンスと容量性リアクタンスの位相が0になる周 波数を読み
取る。