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ADP1712AUJZ-3.0-R7

更新时间： 2024-02-10 20:41:11

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亚德诺 - ADI		线性稳压器IC 调节器电源电路光电二极管输出元件
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300 mA, Low Dropout CMOS Linear Regulator

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ADP1712AUJZ-3.0-R7 技术参数

是否无铅：	含铅	是否Rohs认证：	符合
生命周期：	Active	零件包装代码：	TSOT
包装说明：	LEAD FREE, MO-193AB, TSOT-5	针数：	5
Reach Compliance Code：	compliant	ECCN代码：	EAR99
HTS代码：	8542.39.00.01	风险等级：	1.19
Is Samacsys：	N	可调性：	FIXED
最大回动电压 1：	0.27 V	标称回动电压 1：	0.17 V
最大绝对输入电压：	6 V	最大输入电压：	5.5 V
最小输入电压：	2.5 V	JESD-30 代码：	R-PDSO-G5
JESD-609代码：	e3	长度：	2.9 mm
最大电网调整率：	0.015%	最大负载调整率：	0.0348%
湿度敏感等级：	1	功能数量：	1
输出次数：	1	端子数量：	5
工作温度TJ-Max：	125 °C	工作温度TJ-Min：	-40 °C
最大输出电流 1：	0.3 A	最大输出电压 1：	3.06 V
最小输出电压 1：	2.94 V	标称输出电压 1：	3 V
封装主体材料：	PLASTIC/EPOXY	封装代码：	VSSOP
封装等效代码：	TSOP5/6,.11,37	封装形状：	RECTANGULAR
封装形式：	SMALL OUTLINE, VERY THIN PROFILE, SHRINK PITCH	包装方法：	TAPE AND REEL
峰值回流温度（摄氏度）：	260	认证状态：	Not Qualified
调节器类型：	FIXED POSITIVE SINGLE OUTPUT LDO REGULATOR	座面最大高度：	1 mm
子类别：	Other Regulators	表面贴装：	YES
技术：	CMOS	端子面层：	Matte Tin (Sn)
端子形式：	GULL WING	端子节距：	0.95 mm
端子位置：	DUAL	处于峰值回流温度下的最长时间：	40
最大电压容差：	2%	宽度：	1.6 mm
Base Number Matches：	1

ADP1712AUJZ-3.0-R7 数据手册

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ADP1712/ADP1713/ADP1714

ABSOLUTE MAXIMUM RATINGS

THERMAL RESISTANCE

Table 2.

θ_JAis specified for the worst-case conditions, that is, a device

soldered in a circuit board for surface-mount packages.

Parameter

Rating

IN to GND

OUT to GND

–0.3 V to +6 V

–0.3 V to IN

Table 3. Thermal Resistance

Package Type

EN to GND

–0.3 V to +6 V

–65°C to +150°C

–40°C to +125°C

300°C

θ_JA

Unit

SS/ADJ/BYP/TRK to GND

Storage Temperature Range

Operating Junction Temperature Range

Lead Temperature, Soldering (10 sec)

Soldering Conditions

5-Lead TSOT

170

°C/W

ESD CAUTION

JEDEC J-STD-020

Stresses above those listed under Absolute Maximum Ratings

may cause permanent damage to the device. This is a stress

rating only; functional operation of the device at these or any

other conditions above those indicated in the operational

section of this specification is not implied. Exposure to absolute

maximum rating conditions for extended periods may affect

device reliability.

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