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AD8237ARMZ-RL

更新时间： 2024-02-08 22:56:44

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亚德诺 - ADI		仪表放大器放大器电路光电二极管
页数	文件大小	规格书
28页	648K
描述
Micropower, Zero Drift, True Rail-to-Rail Instrumentation Amplifier

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AD8237ARMZ-RL 技术参数

Source Url Status Check Date：	2013-05-01 14:56:24.985	是否无铅：	含铅
是否Rohs认证：	符合	生命周期：	Active
包装说明：	TSSOP, TSSOP8,.19	针数：	8
Reach Compliance Code：	compliant	ECCN代码：	EAR99
HTS代码：	8542.31.00.01	风险等级：	1.79
Is Samacsys：	N	放大器类型：	INSTRUMENTATION AMPLIFIER
最大平均偏置电流 (IIB)：	0.001 µA	标称带宽 (3dB)：	0.2 MHz
最小共模抑制比：	104 dB	最大输入失调电流 (IIO)：	0.001 µA
最大输入失调电压：	75 µV	JESD-30 代码：	S-PDSO-G8
JESD-609代码：	e3	长度：	3 mm
湿度敏感等级：	1	最大非线性：	0.001%
功能数量：	1	端子数量：	8
最高工作温度：	125 °C	最低工作温度：	-40 °C
封装主体材料：	PLASTIC/EPOXY	封装代码：	TSSOP
封装等效代码：	TSSOP8,.19	封装形状：	SQUARE
封装形式：	SMALL OUTLINE, THIN PROFILE, SHRINK PITCH	电源：	5 V
认证状态：	Not Qualified	座面最大高度：	1.1 mm
标称压摆率：	0.15 V/us	子类别：	Instrumentation Amplifier
最大压摆率：	0.15 mA	供电电压上限：	6 V
标称供电电压 (Vsup)：	5 V	表面贴装：	YES
技术：	CMOS	温度等级：	AUTOMOTIVE
端子面层：	MATTE TIN (SN)	端子形式：	GULL WING
端子节距：	0.65 mm	端子位置：	DUAL
最大电压增益：	1000	最小电压增益：	1
标称电压增益：	10	宽度：	3 mm
Base Number Matches：	1

AD8237ARMZ-RL 数据手册

Data Sheet

AD8237

ABSOLUTE MAXIMUM RATINGS

Table 4.

THERMAL RESISTANCE

θ_JAis specified for a device in free air.

Parameter

Rating

Supply Voltage

6 V

Indefinite

+V_S+ 0.5 V

−V_S− 0.5 V

−65°C to +150°C

Table 5.

Package

Output Short-Circuit Current Duration

Maximum Voltage at −IN, +IN, FB, or REF¹

Minimum Voltage at −IN, +IN, FB, or REF¹

Storage Temperature Range

Junction Temperature Range

ESD

θ_JA

Unit

8-Lead MSOP, 4-Layer JEDEC Board

145.7 °C/W

ESD CAUTION

Human Body Model

8 kV

Charge Device Model

Machine Model

1.25 kV

0.2 kV

¹If input voltages beyond the specified minimum or maximum voltages are

expected, place resistors in series with the inputs to limit the current to 5 mA.

Stresses above those listed under Absolute Maximum Ratings

may cause permanent damage to the device. This is a stress

rating only; functional operation of the device at these or any

other conditions above those indicated in the operational

section of this specification is not implied. Exposure to absolute

maximum rating conditions for extended periods may affect

device reliability.

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