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AD8228BRZ-REEL

更新时间： 2024-02-26 07:19:24

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亚德诺 - ADI		/
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28页	513K
描述
INSTRUMENTATION AMPLIFIER, 50uV OFFSET-MAX, 0.65MHz BAND WIDTH, PDSO8

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AD8228BRZ-REEL 技术参数

是否无铅：	含铅	是否Rohs认证：	符合
生命周期：	Active	零件包装代码：	SOIC
包装说明：	ROHS COMPLIANT, MS-012AA, SOIC-8	针数：	8
Reach Compliance Code：	compliant	ECCN代码：	EAR99
HTS代码：	8542.33.00.01	风险等级：	5.64
Is Samacsys：	N	放大器类型：	INSTRUMENTATION AMPLIFIER
最大平均偏置电流 (IIB)：	0.0006 µA	标称带宽 (3dB)：	0.65 MHz
最小共模抑制比：	100 dB	最大输入失调电流 (IIO)：	0.0004 µA
最大输入失调电压：	50 µV	JESD-30 代码：	R-PDSO-G8
JESD-609代码：	e3	长度：	4.9 mm
湿度敏感等级：	1	负供电电压上限：	-18 V
标称负供电电压 (Vsup)：	-15 V	最大非线性：	0.001%
功能数量：	1	端子数量：	8
最高工作温度：	125 °C	最低工作温度：	-40 °C
封装主体材料：	PLASTIC/EPOXY	封装代码：	SOP
封装等效代码：	SOP8,.25	封装形状：	RECTANGULAR
封装形式：	SMALL OUTLINE	峰值回流温度（摄氏度）：	260
电源：	+-15 V	认证状态：	Not Qualified
座面最大高度：	1.75 mm	标称压摆率：	2.5 V/us
子类别：	Instrumentation Amplifier	最大压摆率：	1.2 mA
供电电压上限：	18 V	标称供电电压 (Vsup)：	15 V
表面贴装：	YES	温度等级：	AUTOMOTIVE
端子面层：	Matte Tin (Sn)	端子形式：	GULL WING
端子节距：	1.27 mm	端子位置：	DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间：	30	最大电压增益：	1.0001
最小电压增益：	0.9999	标称电压增益：	1
宽度：	3.9 mm	Base Number Matches：	1

AD8228BRZ-REEL 数据手册

Data Sheet

AD8420

ABSOLUTE MAXIMUM RATINGS

Table 4.

THERMAL RESISTANCE

θ_JAis specified for a device in free air.

Parameter

Rating

Supply Voltage

18 V

Table 5.

Output Short-Circuit Current

Maximum Voltage at −IN or +IN

Minimum Voltage at −IN or +IN

Maximum Voltage at REF or FB

Minimum Voltage at REF or FB

Storage Temperature Range

ESD

Indefinite

−V_S+ 40 V

−V_S− 0.5 V

+V_S+ 0.5 V

−V_S− 0.5 V

−65°C to +150°C

Package

θ_JA

Unit

8-Lead MSOP, 4-Layer JEDEC Board

135

°C/W

ESD CAUTION

Human Body Model

Charge Device Model

Machine Model

2.5 kV

1.5 kV

0.1 kV

Stresses above those listed under Absolute Maximum Ratings

may cause permanent damage to the device. This is a stress

rating only; functional operation of the device at these or any

other conditions above those indicated in the operational

section of this specification is not implied. Exposure to absolute

maximum rating conditions for extended periods may affect

device reliability.

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