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7P16FLV211C15

更新时间： 2024-02-20 21:31:22
品牌 Logo 应用领域
WEDC 内存集成电路
页数 文件大小 规格书
11页 411K
描述
Flash Card, 8MX16, 150ns, CARD-68

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7P16FLV211C15 技术参数

是否无铅： 含铅是否Rohs认证： 不符合
生命周期：Active零件包装代码：CARD
包装说明：,针数：68
Reach Compliance Code：compliantECCN代码：3A991.B.1.A
HTS代码：8542.32.00.51风险等级：5.24
最长访问时间：150 ns其他特性：ALSO OPERATES AT 5V SUPPLY
备用内存宽度：8JESD-30 代码：R-XXMA-X68
内存密度：134217728 bit内存集成电路类型：FLASH CARD
内存宽度：16功能数量：1
端子数量：68字数：8388608 words
字数代码：8000000工作模式：ASYNCHRONOUS
最高工作温度：70 °C最低工作温度：
组织：8MX16封装主体材料：UNSPECIFIED
封装形状：RECTANGULAR封装形式：MICROELECTRONIC ASSEMBLY
并行/串行：PARALLEL峰值回流温度（摄氏度）：NOT SPECIFIED
编程电压：3 V认证状态：Not Qualified
最大供电电压 (Vsup)：3.6 V最小供电电压 (Vsup)：3 V
标称供电电压 (Vsup)：3.3 V表面贴装：NO
技术：CMOS温度等级：COMMERCIAL
端子形式：UNSPECIFIED端子位置：UNSPECIFIED
处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIED类型：NOR TYPE
Base Number Matches：1

7P16FLV211C15 数据手册

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PCMCIA Flash Memory Card  
FLV Series  
White Electronic Designs  
ABSOLUTE MAXIMUM RATINGS (1)  
Operating Temperature TA (ambient)  
Commercial  
0°C to +60 °C  
-40°C to +85°C  
Industrial  
Storage Temperature  
Commercial  
-30°C to +80 °C  
-40°C to +85°C  
-0.5V to VCC+0.5V  
-0.5V to +7.0V  
Industrial  
Voltage on any pin relative to VSS  
VCC supply Voltage relative to VSS  
Note: Stress greater than those listed under “Absolute Maximum Ratings” may cause permanent  
damage to the device. This is a stress rating only and functional operation at these or any other  
conditions greater than those indicated in the operational sections of this specification is not  
implied. Exposure to absolute maximum rating conditions for extended periods may affect reliability.  
DC CHARACTERISTICS (1)  
VCC = 3.3V/5V  
Symbol  
Parameter  
Density  
Notes  
3.3V VCC  
5V VCC  
Units  
Test Conditions  
(Mbytes)  
Typ(3)  
Max  
Typ(3)  
Max  
ICCR  
ICCW  
ICCE  
VCC Read Current  
All  
All  
10  
12  
20  
35  
mA  
mA  
VCC = VCC max  
tcycle = 150ns, CMOS levels  
VCC Program Current  
28F008SC  
28F016SC  
60  
75  
VCC Erase Current  
All  
40  
50  
mA  
µA  
ICCS  
(CMOS)  
VCC Standby Current  
2MB  
20MB  
4MB  
40MB  
2
50  
400  
50  
200  
60  
420  
60  
230  
VCC = VCC max  
Control Signals = VCC  
Reset = VSS, CMOS levels  
28F008SC  
2
200  
230  
28F016SC  
400  
420  
CMOS Test Conditions: VCC = 5V ± 5%, VIL = VSS ± 0.2V, VIH = VCC ± 0.2V  
Notes:  
1. All currents are RMS values unless otherwise specified. ICCR, ICCW and ICCE are based on Byte wide operations. For 16 bit operation values are double.  
2. Control Signals: CE1#, CE2#, OE#, WE#, REG#.  
3. Typical: VCC = 5V, T = +25°C.  
Symbol Parameter  
Notes  
Min  
Max  
Units  
Test Conditions  
ILI  
Input Leakage Current  
1
±20  
µA  
VCC = VCCMAX  
VIN =VCC or VSS  
ILO  
Output Leakage Current  
1
±20  
µA  
VCC = VCCMAX  
VOUT =VCC or VSS  
VIL  
VIH  
Input Low Voltage  
Input High Voltage  
Output Low Voltage  
Output High Voltage  
1
1
1
1
1
0
0.8  
VCC+0.5  
0.4  
V
V
V
V
V
0.7xVCC  
VOL  
VOH  
VLKO  
IOL = 3.2mA  
IOH = -2.0mA  
VCC-0.4  
VCC  
VCC Erase/Program  
2.0  
Lock Voltage  
Notes:  
1. Values are the same for byte and word wide modes for all card densities.  
2. Exceptions: Leakage currents on CE1#, CE2#, OE#, REG# and WE# will be < 500 µA when VIN = GND due to internal pull-up resistors. Leakage currents on RST will be <150µA  
when VIN=VCC due to internal pull-down resistor.  
White Electronic Designs Corp. reserves the right to change products or specifications without notice.  
June, 2003  
Rev. 5  
5
White Electronic Designs Corporation • (602) 437-1520 • www.wedc.com  
12345678...11

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