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5962-8852515YX

更新时间: 2024-02-11 17:43:56
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美国微芯 - MICROCHIP 可编程只读存储器电动程控只读存储器电可擦编程只读存储器内存集成电路
页数 文件大小 规格书
25页 659K
描述
EEPROM, 32KX8, 150ns, Parallel, CMOS, CQCC32

5962-8852515YX 技术参数

生命周期:Obsolete零件包装代码:QFJ
包装说明:QCCN,针数:32
Reach Compliance Code:unknownECCN代码:3A001.A.2.C
HTS代码:8542.32.00.51风险等级:5.31
最长访问时间:150 ns其他特性:AUTOMATIC WRITE
JESD-30 代码:R-CQCC-N32长度:13.97 mm
内存密度:262144 bit内存集成电路类型:EEPROM
内存宽度:8功能数量:1
端子数量:32字数:32768 words
字数代码:32000工作模式:ASYNCHRONOUS
最高工作温度:125 °C最低工作温度:-55 °C
组织:32KX8封装主体材料:CERAMIC, METAL-SEALED COFIRED
封装代码:QCCN封装形状:RECTANGULAR
封装形式:CHIP CARRIER并行/串行:PARALLEL
峰值回流温度(摄氏度):NOT SPECIFIED编程电压:5 V
认证状态:Not Qualified筛选级别:MIL-STD-883
座面最大高度:2.54 mm最大供电电压 (Vsup):5.5 V
最小供电电压 (Vsup):4.5 V标称供电电压 (Vsup):5 V
表面贴装:YES技术:CMOS
温度等级:MILITARY端子形式:NO LEAD
端子节距:1.27 mm端子位置:QUAD
处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIED宽度:11.43 mm
最长写入周期时间 (tWC):3 msBase Number Matches:1

5962-8852515YX 数据手册

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AT28C256  
11. Input Test Waveforms and Measurement Level  
tR, tF < 5 ns  
12. Output Test Load  
13. Pin Capacitance  
f = 1 MHz, T = 25°C(1)  
Symbol  
CIN  
Typ  
4
Max  
6
Units  
pF  
Conditions  
VIN = 0V  
COUT  
8
12  
pF  
VOUT = 0V  
Note:  
1. This parameter is characterized and is not 100% tested.  
7
0006M–PEEPR–12/09  

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