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5962-8765902CA

更新时间： 2024-02-04 14:27:08
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德州仪器 - TI 比较器放大器放大器电路
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17页 259K
描述
LinCMOSE MICROPOWER QUAD COMPARATORS

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5962-8765902CA 技术参数

生命周期：Active零件包装代码：DIP
包装说明：CERAMIC, DIP-14针数：14
Reach Compliance Code：unknownECCN代码：EAR99
HTS代码：8542.39.00.01风险等级：5.3
放大器类型：COMPARATOR最大平均偏置电流 (IIB)：0.03 µA
最大输入失调电压：10000 µVJESD-30 代码：R-GDIP-T14
JESD-609代码：e0长度：19.56 mm
功能数量：4端子数量：14
最高工作温度：125 °C最低工作温度：-55 °C
输出类型：OPEN-DRAIN封装主体材料：CERAMIC, GLASS-SEALED
封装代码：DIP封装形状：RECTANGULAR
封装形式：IN-LINE峰值回流温度（摄氏度）：NOT SPECIFIED
认证状态：Qualified标称响应时间：2500 ns
筛选级别：MIL-STD-883座面最大高度：5.08 mm
子类别：Comparator供电电压上限：18 V
标称供电电压 (Vsup)：5 V表面贴装：NO
技术：CMOS温度等级：MILITARY
端子面层：TIN LEAD端子形式：THROUGH-HOLE
端子节距：2.54 mm端子位置：DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIED宽度：7.62 mm
Base Number Matches：1

5962-8765902CA 数据手册

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TLC139, TLC339, TLC339Q  
LinCMOS MICROPOWER QUAD COMPARATORS  
SLCS119 – DECEMBER 1986 – REVISED JANUARY 1991  
switching characteristics, V  
= 5 V, T = 25°C (see Figure 3)  
A
DD  
TLC139M, TLC339C  
TLC339I, TLC339M  
TLC339Q  
PARAMETER  
TEST CONDITIONS  
UNIT  
MIN  
TYP  
4.5  
MAX  
Overdrive = 2 mV  
Overdrive = 5 mV  
Overdrive = 10 mV  
Overdrive = 20 mV  
Overdrive = 40 mV  
2.5  
f = 10 kHz,  
= 15 pF  
1.7  
C
t
Propagation delay time, low-to-high output  
µs  
L
PLH  
1.2  
1.0  
V = 1.4 V step at IN+  
I
1.1  
Overdrive = 2 mV  
3.6  
Overdrive = 5 mV  
Overdrive = 10 mV  
Overdrive = 20 mV  
Overdrive = 40 mV  
2.1  
f = 10 kHz,  
= 15 pF  
1.3  
C
t
t
Propagation delay time, high-to-low level output  
Transition time, high-to-low level output  
µs  
L
PHL  
0.85  
0.55  
0.10  
V = 1.4 V step at IN+  
I
f = 10 kHz,  
Overdrive = 50 mV  
20  
ns  
THL  
C
= 15pF  
L
PARAMETER MEASUREMENT INFORMATION  
The TLC139 and TLC339 contain a digital output stage that, if held in the linear region of the transfer curve, can cause  
damage to the device. Conventional operational amplifier/comparator testing incorporates the use of a servo-loop  
that is designed to force the device output to a level within this linear region. Since the servo-loop method of testing  
cannot be used, the following alternatives for testing parameters such as input offset voltage, common-mode  
rejection, etc., are suggested.  
To verify that the input offset voltage falls within the limits specified, the limit value is applied to the input as shown  
in Figure 1(a). With the noninverting input positive with respect to the inverting input, the output should be high. With  
the input polarity reversed, the output should be low.  
A similar test can be made to verify the input offset voltage at the common-mode extremes. The supply voltages can  
be slewed as shown in Figure 1(b) for the V  
accuracy.  
test, rather than changing the input voltages, to provide greater  
ICR  
5 V  
1 V  
5.1 kΩ  
5.1 kΩ  
Applied V  
IO  
Applied V  
Limit  
IO  
Limit  
V
O
V
O
– 4 V  
(a) V WITH V = 0 V  
IO IC  
(b) V WITH V = 4 V  
IO IC  
Figure 1. Method for Verifying That Input Offset Voltage Is Within Specified Limits  
7
POST OFFICE BOX 655303 • DALLAS, TEXAS 75265  
1...45678910...17

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