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2SC3405(2-7J1A)

更新时间： 2024-02-22 00:34:59

品牌	Logo	应用领域
东芝 - TOSHIBA		开关晶体管
页数	文件大小	规格书
5页	176K
描述
TRANSISTOR 800 mA, 800 V, NPN, Si, SMALL SIGNAL TRANSISTOR, 2-7J1A, 3 PIN, BIP General Purpose Small Signal

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2SC3405(2-7J1A) 技术参数

是否Rohs认证：	不符合	生命周期：	Obsolete
包装说明：	SMALL OUTLINE, R-PSSO-G2	针数：	3
Reach Compliance Code：	unknown	ECCN代码：	EAR99
HTS代码：	8541.29.00.95	风险等级：	5.89
外壳连接：	COLLECTOR	最大集电极电流 (IC)：	0.8 A
集电极-发射极最大电压：	800 V	配置：	SINGLE
最小直流电流增益 (hFE)：	10	JESD-30 代码：	R-PSSO-G2
元件数量：	1	端子数量：	2
最高工作温度：	150 °C	封装主体材料：	PLASTIC/EPOXY
封装形状：	RECTANGULAR	封装形式：	SMALL OUTLINE
峰值回流温度（摄氏度）：	NOT SPECIFIED	极性/信道类型：	NPN
认证状态：	Not Qualified	表面贴装：	YES
端子形式：	GULL WING	端子位置：	SINGLE
处于峰值回流温度下的最长时间：	NOT SPECIFIED	晶体管应用：	SWITCHING
晶体管元件材料：	SILICON	最大关闭时间（toff）：	5000 ns
Base Number Matches：	1

2SC3405(2-7J1A) 数据手册

2SC3405

TOSHIBA Transistor Silicon NPN Triple Diffused Type

2SC3405

Switching Regulator and High Voltage Switching

Industrial Applications

Unit: mm

Applications

High Speed DC-DC Converter Applications

•

Excellent switching times: t = 1.0 μs (max)

t = 1.0 μs (max), (I = 0.3 A)

High collector breakdown voltage: V

= 800 V

CEO

Absolute Maximum Ratings (Ta = 25°C)

Characteristics

Collector-base voltage

Symbol

Rating

Unit

CBO

CEO

EBO

900

800

Collector-emitter voltage

Emitter-base voltage

0.8

Collector current

Base current

Pulse

1.5

0.2

Ta = 25°C

Tc = 25°C

1.0

Collector power

dissipation

JEDEC

JEITA

―

Junction temperature

150

°C

TOSHIBA

2-7J1A

Storage temperature range

−55 to 150

stg

Weight: 0.36 g (typ.)

Note: Using continuously under heavy loads (e.g. the application of high

temperature/current/voltage and the significant change in temperature, etc.) may cause this product to

decrease in the reliability significantly even if the operating conditions (i.e. operating

temperature/current/voltage, etc.) are within the absolute maximum ratings.

Please design the appropriate reliability upon reviewing the Toshiba Semiconductor Reliability Handbook

(“Handling Precautions”/”Derating Concept and Methods”) and individual reliability data (i.e. reliability test

report and estimated failure rate, etc).

2010-02-05

12 3 4 5

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