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23A512T-I/ST

更新时间: 2024-02-20 13:52:31
品牌 Logo 应用领域
美国微芯 - MICROCHIP 时钟静态存储器光电二极管内存集成电路
页数 文件大小 规格书
32页 525K
描述
STANDARD SRAM

23A512T-I/ST 技术参数

是否Rohs认证: 符合生命周期:Active
包装说明:TSSOP, TSSOP8,.25Reach Compliance Code:compliant
Factory Lead Time:9 weeks风险等级:5.5
最大时钟频率 (fCLK):20 MHzI/O 类型:SEPARATE
JESD-30 代码:R-PDSO-G8JESD-609代码:e3
长度:4.4 mm内存密度:524288 bit
内存集成电路类型:STANDARD SRAM内存宽度:8
湿度敏感等级:1功能数量:1
端口数量:1, (3 LINE)端子数量:8
字数:65536 words字数代码:64000
工作模式:SYNCHRONOUS最高工作温度:85 °C
最低工作温度:-40 °C组织:64KX8
封装主体材料:PLASTIC/EPOXY封装代码:TSSOP
封装等效代码:TSSOP8,.25封装形状:RECTANGULAR
封装形式:SMALL OUTLINE, THIN PROFILE, SHRINK PITCH并行/串行:SERIAL
峰值回流温度(摄氏度):260电源:1.8/2 V
认证状态:Not Qualified筛选级别:TS 16949
座面最大高度:1.2 mm最大待机电流:0.000004 A
最小待机电流:1.7 V子类别:SRAMs
最大压摆率:0.01 mA最大供电电压 (Vsup):2.2 V
最小供电电压 (Vsup):1.7 V表面贴装:YES
技术:CMOS温度等级:INDUSTRIAL
端子面层:Matte Tin (Sn) - annealed端子形式:GULL WING
端子节距:0.65 mm端子位置:DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间:40宽度:3 mm
Base Number Matches:1

23A512T-I/ST 数据手册

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23A512/23LC512  
TABLE 1-2:  
AC CHARACTERISTICS  
Industrial (I):  
Automotive (E): TA = -40°C to +125°C  
TA = -40°C to +85°C  
AC CHARACTERISTICS  
Param.  
Sym.  
Characteristic  
Min.  
Max.  
Units  
Test Conditions  
No.  
1
2
FCLK Clock frequency  
20  
16  
MHz I-Temp  
E-Temp  
I-Temp  
TCSS CS setup time  
25  
32  
ns  
E-Temp  
3
4
TCSH CS hold time  
50  
ns  
ns  
I-Temp  
E-Temp  
TCSD CS disable time  
25  
32  
5
6
7
8
9
Tsu  
THD  
TR  
Data setup time  
Data hold time  
CLK rise time  
CLK fall time  
10  
10  
20  
20  
ns  
ns  
ns  
ns  
ns  
(Note 1)  
(Note 1)  
TF  
THI  
Clock high time  
I-Temp  
E-Temp  
25  
32  
10  
11  
12  
TLO  
Clock low time  
I-Temp  
E-Temp  
25  
32  
ns  
ns  
ns  
TCLD Clock delay time  
I-Temp  
E-Temp  
25  
32  
TV  
Output valid from clock low  
I-Temp  
E-Temp  
25  
32  
13  
14  
THO  
TDIS  
Output hold time  
0
20  
50  
ns  
ns  
ns  
ns  
ns  
ns  
(Note 1)  
Output disable time  
10  
10  
10  
15  
16  
17  
18  
THS  
THH  
THZ  
THV  
HOLD setup time  
HOLD hold time  
HOLD low to output High-Z  
HOLD high to output valid  
Note 1: This parameter is periodically sampled and not 100% tested.  
TABLE 1-3:  
AC TEST CONDITIONS  
AC Waveform:  
Input pulse level  
Input rise/fall time  
CL = 30 pF  
0.1 VCC to 0.9 VCC  
5 ns  
Timing Measurement Reference Level:  
Input  
0.5 VCC  
0.5 VCC  
Output  
2012-2013 Microchip Technology Inc.  
DS20005155B-page 3  
 

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