100364D

更新时间： 2024-01-08 07:31:52

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美国国家半导体 - NSC		复用器
页数	文件大小	规格书
8页	128K
描述
Low Power 16-Input Multiplexer

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数据手册

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100364D 技术参数

是否Rohs认证：	不符合	生命周期：	Transferred
包装说明：	QFF, QFL24,.4SQ	Reach Compliance Code：	unknown
风险等级：	5.83	JESD-30 代码：	S-XQFP-F24
JESD-609代码：	e0	逻辑集成电路类型：	MULTIPLEXER
功能数量：	1	输入次数：	16
端子数量：	24	最高工作温度：	125 °C
最低工作温度：	-55 °C	封装主体材料：	CERAMIC
封装代码：	QFF	封装等效代码：	QFL24,.4SQ
封装形状：	SQUARE	封装形式：	FLATPACK
电源：	-4.5 V	最大电源电流（ICC）：	95 mA
Prop。Delay @ Nom-Sup：	2.8 ns	认证状态：	Not Qualified
筛选级别：	38535Q/M;38534H;883B	子类别：	Multiplexer/Demultiplexers
表面贴装：	YES	技术：	ECL100K
温度等级：	MILITARY	端子面层：	Tin/Lead (Sn/Pb)
端子形式：	FLAT	端子节距：	1.27 mm
端子位置：	QUAD	Base Number Matches：	1

100364D 数据手册

AC Electrical Characteristics

V_EE−4.2V to −5.7V, V_CCV_CCAGND

Symbol

Parameter

T_C−55˚C

T_C25˚C

T_C+125˚C

Units Conditions

Notes

Min

Max

Min

Max

Min

Max

t_PLH

t_PHL

t_PLH

t_PHL

t_PLH

t_PHL

t_TLH

t_THL

Propagation Delay

I₀–I₁₅to Output

0.50

2.60

3.30

2.90

1.20

0.60

0.90

0.70

0.20

2.40

0.60

2.80

Figures 1,

(Notes 7,

8, 9)

Propagation Delay

S₀, S₁to Output

0.70

0.50

0.20

3.10

2.60

1.20

1.00

0.60

0.20

3.50

3.00

1.20

Propagation Delay

S₂, S₃to Output

Transition Time

(Note 10)

20% to 80%, 80% to 20%

Note 7: F100K 300 Series cold temperature testing is performed by temperature soaking (to guarantee junction temperature equals −55˚C), then testing immediately

without allowing for the junction temperature to stabilize due to heat dissipation after power-up. This provides “cold start” specs which can be considered a worst case

condition at cold temperatures.

Note 8: Screen tested 100% on each device at +25˚C, temperature only, Subgroup A9.

Note 9: Sample tested (Method 5005, Table I) on each Mfg. lot at +25˚C, Subgroup A9, and at +125˚C, and −55˚C temp., Subgroups A10 and A11.

Note 10: Not tested at +25˚C, +125˚C and −55˚C temperature (design characterization data).

Test Circuit

DS100301-6

FIGURE 1. AC Test Circuit

www.national.com

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