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Datasheet > 驱动程序和接口 > 电平转换器> 100329APC
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100329APC

更新时间： 2024-01-21 09:37:48
品牌 Logo 应用领域
飞兆/仙童 - FAIRCHILD 转换器电平转换器驱动程序和接口锁存器接口集成电路光电二极管
页数 文件大小 规格书
8页 90K
描述
Low Power Octal ECL/TTL Bidirectional Translator with Register

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100329APC 技术参数

是否Rohs认证： 符合生命周期：Obsolete
零件包装代码：LCC包装说明：0.450 X 0.450 INCH, PLASTIC, MO-047, LCC-28
针数：28Reach Compliance Code：compliant
ECCN代码：EAR99HTS代码：8542.39.00.01
风险等级：5.6Is Samacsys：N
最大延迟：7.5 ns接口集成电路类型：TTL TO ECL TRANSCEIVER
JESD-30 代码：S-PQCC-J28JESD-609代码：e3
长度：11.43 mm湿度敏感等级：2
位数：8功能数量：1
端子数量：28最高工作温度：85 °C
最低工作温度：-40 °C输出特性：3-STATE
输出锁存器或寄存器：REGISTER输出极性：TRUE
封装主体材料：PLASTIC/EPOXY封装代码：QCCJ
封装等效代码：LDCC28,.5SQ封装形状：SQUARE
封装形式：CHIP CARRIER峰值回流温度（摄氏度）：235
电源：5,-4.5 V认证状态：Not Qualified
座面最大高度：4.57 mm子类别：Level Translators
最大供电电压：5.5 V最小供电电压：4.5 V
标称供电电压：5 V表面贴装：YES
技术：ECL温度等级：INDUSTRIAL
端子面层：Matte Tin (Sn)端子形式：J BEND
端子节距：1.27 mm端子位置：QUAD
处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIED宽度：11.43 mm
Base Number Matches：1

100329APC 数据手册

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Absolute Maximum Ratings(Note 4)  
Recommended Operating  
Conditions  
Storage Temperature (TSTG  
Maximum Junction Temperature (Tj)  
EE Pin Potential to Ground Pin  
)
−65°C to +150°C  
+150°C  
Case Temperature (TC)  
0°C to +85°C  
−5.7V to −4.2V  
+4.5V to +5.5V  
V
−7.0V to +0.5V  
−0.5V to +6.0V  
VEE to +0.5V  
ECL Supply Voltage (VEE  
)
VTTL Pin Potential to Ground Pin  
ECL Input Voltage (DC)  
ECL Output Current  
TTL Supply Voltage (VTTL  
)
(DC Output HIGH)  
−50 mA  
−0.5V to +6.0V  
TTL Input Voltage (Note 6)  
TTL Input Current (Note 6)  
Voltage Applied to Output  
in HIGH State  
−30 mA to +5.0 mA  
Note 4: The “Absolute Maximum Ratings” are those values beyond which  
the safety of the device cannot be guaranteed. The device should not be  
operated at these limits. The parametric values defined in the Electrical  
Characteristics tables are not guaranteed at the absolute maximum rating.  
The “Recommended Operating Conditions” table will define the conditions  
for actual device operation.  
3-STATE Output  
−0.5V to +5.5V  
Current Applied to TTL Output  
in LOW State (Max)  
twice the rated IOL (mA)  
Note 5: ESD testing conforms to MIL-STD-883, Method 3015.  
Note 6: Either voltage limit or current limit is sufficient to protect inputs.  
ESD (Note 5)  
≥2000V  
TTL-to-ECL DC Electrical Characteristics (Note 7)  
VEE = −4.2V to −5.7V, VCC = VCCA = GND, TC = 0°C to +85°C, VTTL = +4.5V to +5.5V  
Symbol  
Parameter  
Output HIGH Voltage  
Min  
Typ  
−955  
−1705  
Max  
−870  
Units  
mV  
Conditions  
VOH  
VOL  
−1025  
−1830  
V
IN = VIH (Max) or VIL (Min)  
Output LOW Voltage  
Cutoff Voltage  
−1620  
mV  
Loading with 50Ω to −2V  
OE or DIR LOW,  
−2000  
−1950  
−1610  
mV  
mV  
V
IN = VIH (Max) or VIL (Min)  
Loading with 50Ω to −2V  
VIN = VIH (Min) or VIL (Max)  
VOHC  
Output HIGH Voltage  
Corner Point HIGH  
Output LOW Voltage  
Corner Point LOW  
Input HIGH Voltage  
Input LOW Voltage  
Input HIGH Current  
Breakdown Test  
−1035  
Loading with 50Ω to −2V  
VOLC  
mV  
VIH  
VIL  
IIH  
2.0  
0
5.0  
0.8  
70  
V
V
Over VTTL, VEE, TC Range  
Over VTTL, VEE, TC Range  
µA  
mA  
µA  
V
V
V
IN = +2.7V  
IN = +5.5V  
IN = +0.5V  
1.0  
IIL  
Input LOW Current  
Input Clamp  
−700  
−1.2  
VFCD  
V
IIN = −18 mA  
Diode Voltage  
IEE  
VEE Supply Current  
LE LOW, OE and DIR HIGH  
Inputs OPEN  
−189  
−199  
−94  
−94  
mA  
V
V
EE = −4.2V to −4.8V  
EE = −4.2V to −5.7V  
Note 7: The specified limits represent the “worst case” value for the parameter. Since these values normally occur at the temperature extremes, additional  
noise immunity and guardbanding can be achieved by decreasing the allowable system operating ranges. Conditions for testing shown in the tables are cho-  
sen to guarantee operation under “worst case” conditions.  
3
www.fairchildsemi.com  
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