是否Rohs认证: | 不符合 | 生命周期: | Obsolete |
零件包装代码: | QFJ | 包装说明: | QCCJ, LDCC32,.5X.6 |
针数: | 32 | Reach Compliance Code: | not_compliant |
ECCN代码: | EAR99 | HTS代码: | 8542.32.00.51 |
风险等级: | 5.87 | 最长访问时间: | 90 ns |
其他特性: | HARDWARE AND SOFTWARE DATA PROTECTION; 10-YEARS DATA RETENTION; 1K PROGRAM/ERASE CYCLE | 命令用户界面: | NO |
数据轮询: | YES | 数据保留时间-最小值: | 10 |
耐久性: | 1000 Write/Erase Cycles | JESD-30 代码: | R-PQCC-J32 |
JESD-609代码: | e0 | 长度: | 13.97 mm |
内存密度: | 524288 bit | 内存集成电路类型: | FLASH |
内存宽度: | 8 | 功能数量: | 1 |
部门数/规模: | 512 | 端子数量: | 32 |
字数: | 65536 words | 字数代码: | 64000 |
工作模式: | ASYNCHRONOUS | 最高工作温度: | 70 °C |
最低工作温度: | 组织: | 64KX8 | |
封装主体材料: | PLASTIC/EPOXY | 封装代码: | QCCJ |
封装等效代码: | LDCC32,.5X.6 | 封装形状: | RECTANGULAR |
封装形式: | CHIP CARRIER | 页面大小: | 128 words |
并行/串行: | PARALLEL | 电源: | 5 V |
编程电压: | 5 V | 认证状态: | Not Qualified |
座面最大高度: | 3.56 mm | 部门规模: | 128 |
最大待机电流: | 0.0001 A | 子类别: | Flash Memories |
最大压摆率: | 0.05 mA | 最大供电电压 (Vsup): | 5.5 V |
最小供电电压 (Vsup): | 4.5 V | 标称供电电压 (Vsup): | 5 V |
表面贴装: | YES | 技术: | CMOS |
温度等级: | COMMERCIAL | 端子面层: | Tin/Lead (Sn/Pb) |
端子形式: | J BEND | 端子节距: | 1.27 mm |
端子位置: | QUAD | 切换位: | YES |
类型: | NOR TYPE | 宽度: | 11.43 mm |
最长写入周期时间 (tWC): | 10 ms | Base Number Matches: | 1 |
型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
W29EE512P-90B | WINBOND |
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64K X 8 CMOS FLASH MEMORY | |
W29EE512P-90-TR | WINBOND |
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Flash, 64KX8, 90ns, PQCC32, PLASTIC, LCC-32 | |
W29EE512P90Z | WINBOND |
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Flash, 64KX8, 90ns, PQCC32, LEAD FREE, PLASTIC, LCC-32 | |
W29EE512Q-70 | WINBOND |
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64K X 8 CMOS FLASH MEMORY | |
W29EE512Q-70B | WINBOND |
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64K X 8 CMOS FLASH MEMORY | |
W29EE512Q-90 | WINBOND |
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64K X 8 CMOS FLASH MEMORY | |
W29EE512Q-90B | WINBOND |
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64K X 8 CMOS FLASH MEMORY | |
W29EE512S-12 | ETC |
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x8 Flash EEPROM | |
W29EE512S-70 | ETC |
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x8 Flash EEPROM | |
W29EE512S-90 | ETC |
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x8 Flash EEPROM |