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V62/12625-01XE-T

更新时间: 2023-09-03 20:28:05
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德州仪器 - TI 控制器微控制器
页数 文件大小 规格书
57页 1013K
描述
增强型混合信号微控制器 | PW | 20 | -40 to 125

V62/12625-01XE-T 数据手册

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MSP430G2332-EP  
www.ti.com.cn  
ZHCSA51A AUGUST 2012REVISED OCTOBER 2012  
混合信号微控制器  
1
特性  
23  
低电源电压范围: 1.8 V 3.6 V  
超低功耗  
串行板上编程,  
无需外部编程电压,  
利用安全熔丝实现可编程代码保护  
具有两线制JTASBW)接口的片载仿真逻辑电路  
系列成员汇总于Table 1  
运行模式: 220 μA (在 1 MHz 频率和 2.2 V  
电压条件下)  
待机模式: 0.5 μA  
封装选项  
关闭模式 (RAM 保持): 0.1 μA  
薄型小外形尺寸封装 (TSSOP)20 引脚  
5 种节能模式  
完整的模块说明,请见 MSP430x2xx 系列产品  
用户指南》 (文献编号SLAU144)  
可在不到 1μs 的时间里超快速地从待机模式唤醒  
16 RISC 架构、62.5ns 指令周期时间  
基本时钟模块配置  
支持国防、航天和医疗应用  
带有四个已校准频率的高达 16MHz 的内部频率  
内部超低功耗低频 (LF) 振荡器  
受控基线  
一个组装和测试场所  
一个制造场所  
(1)  
32kHz 晶振  
外部数字时钟源  
Available in Extended (–40°C to 125°C)  
Temperature Range  
一个具有 3 个捕获/比较寄存器的 16 Timer_A  
多达 16 个触感使能输入输出 (I/O) 引脚  
(2)  
产品生命周期有所延长  
拓展的产品变更通知  
产品可追溯性  
支持 SPI I2C 的通用串行接口 (USI)(请  
Table 1)  
带内部基准、采样与保持以及自动扫描功能的 10  
200ksps 模数 (A/D) 转换器(请见 Table 1)  
欠压检测器  
(1) 晶体振荡器不能在超过 105°C 的环境中运行  
(2) 可定制工作温度范围  
说明  
德州仪器公司 MSP430™ 系列超低功耗微控制器包含多种器件,这些器件特有面向多种应用的不同外设集。 为了  
延长便携式应用中所用电池的寿命,对这个含 5 种低功耗模式的架构进行了优化。 该器件具有一个强大的 16 位  
RISC CPU16 位寄存器和有助于获得最大编码效率的常数发生器。 The digitally controlled oscillator (DCO)  
allows wake-up from low-power modes to active mode in less than 1 µs.  
MSP430G2332 系列微控制器是超低功耗混合信号微控制器,此微控制器带有内置的  
16 位定时器,和高达 16 I/O 触感使能引脚以及使用通用串行通信接口的内置通信功能。 MSP430G2332 系列  
带有一个 10 位模数 (A/D) 转换器。 配置详细信息,请见Table 1。 典型应用包括低成本传感器系统,此类系统负  
责捕获模拟信号、将之转换为数字值、随后对数据进行处理以进行显示或传送至主机系统。  
1
Please be aware that an important notice concerning availability, standard warranty, and use in critical applications of  
Texas Instruments semiconductor products and disclaimers thereto appears at the end of this data sheet.  
2
3
MSP430 is a trademark of Texas Instruments.  
All other trademarks are the property of their respective owners.  
PRODUCTION DATA information is current as of publication date.  
Products conform to specifications per the terms of the Texas  
Instruments standard warranty. Production processing does not  
necessarily include testing of all parameters.  
Copyright © 2012, Texas Instruments Incorporated  
English Data Sheet: SLAS885  

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