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TC7SHU04FE

更新时间： 2024-11-05 03:43:07
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东芝 - TOSHIBA /
页数 文件大小 规格书
5页 147K
描述
INVERTER (Un-Buffer)

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TC7SHU04FE 技术参数

是否Rohs认证： 不符合生命周期：Obsolete
零件包装代码：SON包装说明：VSOF, FL6,.047,20
针数：5Reach Compliance Code：unknown
HTS代码：8542.39.00.01风险等级：5.84
系列：LV/LV-A/LVX/HJESD-30 代码：R-PDSO-F5
JESD-609代码：e0长度：1.6 mm
负载电容（CL）：50 pF逻辑集成电路类型：INVERTER
最大I（ol）：0.004 A功能数量：1
输入次数：1端子数量：5
最高工作温度：85 °C最低工作温度：-40 °C
封装主体材料：PLASTIC/EPOXY封装代码：VSOF
封装等效代码：FL6,.047,20封装形状：RECTANGULAR
封装形式：SMALL OUTLINE, VERY THIN PROFILE电源：2/5.5 V
Prop。Delay @ Nom-Sup：13 ns传播延迟（tpd）：13 ns
认证状态：Not Qualified施密特触发器：NO
座面最大高度：0.6 mm子类别：Gates
最大供电电压 (Vsup)：5.5 V最小供电电压 (Vsup)：2 V
标称供电电压 (Vsup)：3.3 V表面贴装：YES
技术：CMOS温度等级：INDUSTRIAL
端子面层：Tin/Lead (Sn/Pb)端子形式：FLAT
端子节距：0.5 mm端子位置：DUAL
宽度：1.2 mm

TC7SHU04FE 数据手册

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TC7SHU04FE  
TOSHIBA CMOS Digital Integrated Circuit Silicon Monolithic  
TC7SHU04FE  
INVERTER (Un-Buffer)  
Features  
•
•
•
Super high speed operation :t  
= 3.5 ns (typ.)  
= 5 V  
PD  
@V  
CC  
Low power dissipation : I  
= 2 μA (Max.)  
CC  
@ Ta = 25°C  
= V  
High noise immunity : V  
NIH  
NIH  
= 10% V  
(Min.)  
CC  
•
•
5.5V tolerant input.  
voltage range : V  
(opr) = 2~5.5 V  
CC  
Wide operation  
Weight: 0.003 g (typ.)  
Marking  
Pin Assignment (top view)  
Type name  
NC  
V
CC  
1
2
3
5
H 6  
IN A  
GND  
OUT Y  
4
Absolute Maximum Ratings (Ta = 25°C)  
Characteristics  
Supply voltage range  
Symbol  
Rating  
−0.5~7  
−0.5~7  
Unit  
V
V
CC  
DC input voltage  
V
V
IN  
DC output voltage  
Input diode current  
Output diode current  
DC output current  
V
−0.5~V  
+ 0.5  
CC  
V
OUT  
I
−20  
±20  
±25  
±50  
150  
mA  
mA  
mA  
mA  
mW  
°C  
IK  
I
OK  
I
OUT  
DC V /ground current  
CC  
I
CC  
Power dissipation  
P
D
Storage temperature  
T
−65~150  
stg  
Note: Using continuously under heavy loads (e.g. the application of high temperature/current/voltage and the  
significant change in temperature, etc.) may cause this product to decrease in the reliability significantly even  
if the operating conditions (i.e. operating temperature/current/voltage, etc.) are within the absolute maximum  
ratings and the operating ranges.  
Please design the appropriate reliability upon reviewing the Toshiba Semiconductor Reliability Handbook  
(“Handling Precautions”/“Derating Concept and Methods”) and individual reliability data (i.e. reliability test  
report and estimated failure rate, etc).  
1
2007-11-01  
12345

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