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SWRA370

更新时间： 2024-11-05 12:22:35
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德州仪器 - TI 测试射频
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描述
Basic RF Testing of CCxxxx Devices

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Application Report  
SWRA370–August 2011  
Basic RF Testing of CCxxxx Devices  
Abhishek Chattopadhyay .................................................................................. Low-Power RF Products  
ABSTRACT  
This document presents users of Texas Instruments' low-power RF products with an overview of the  
different characterization tests (conducted, not radiated) that are performed during the device verification  
process. The document covers the basic setup of the test system and gives procedural information about  
each test.  
Throughout this document, the term CCxxxx refers to the low-power CC25xx, CC11xx, CC10XX, and  
CC24xx RF device families.  
Keywords:  
•
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•
•
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•
RF Testing  
RX Test  
Conformance Testing  
Output Power  
SmartRF Studio  
TX Test  
Characterization Test  
Sensitivity  
SmartRF is a trademark of Texas Instruments.  
Apple, Macintosh are registered trademarks of Apple Inc.  
Bluetooth is a registered trademark of Bluetooth SIG.  
Linux is a registered trademark of Linus Torvalds.  
Microsoft, Windows are registered trademarks of Microsoft Corporation.  
LabVIEW is a trademark of National Instruments.  
ZigBee is a registered trademark of Zigbee Alliance.  
All other trademarks are the property of their respective owners.  
1
SWRA370–August 2011  
Basic RF Testing of CCxxxx Devices  
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Copyright © 2011, Texas Instruments Incorporated  
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