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| 生命周期： | Obsolete | Reach Compliance Code： | unknown |
| 风险等级： | 5.84 | Is Samacsys： | N |
| 其他特性： | SCANNABLE | 系列： | LVT |
| JESD-30 代码： | R-PDSO-G56 | 长度： | 18.415 mm |
| 负载电容（CL）： | 50 pF | 逻辑集成电路类型： | BOUNDARY SCAN BUS TRANSCEIVER |
| 位数： | 9 | 功能数量： | 2 |
| 端口数量： | 2 | 端子数量： | 56 |
| 最高工作温度： | 85 °C | 最低工作温度： | -40 °C |
| 输出特性： | 3-STATE | 输出极性： | INVERTED |
| 封装主体材料： | PLASTIC/EPOXY | 封装代码： | SSOP |
| 封装形状： | RECTANGULAR | 封装形式： | SMALL OUTLINE, SHRINK PITCH |
| 最大电源电流（ICC）： | 30 mA | 传播延迟（tpd）： | 5.5 ns |
| 认证状态： | Not Qualified | 座面最大高度： | 2.79 mm |
| 最大供电电压 (Vsup)： | 3.6 V | 最小供电电压 (Vsup)： | 2.7 V |
| 标称供电电压 (Vsup)： | 3.3 V | 表面贴装： | YES |
| 技术： | BICMOS | 温度等级： | INDUSTRIAL |
| 端子形式： | GULL WING | 端子节距： | 0.635 mm |
| 端子位置： | DUAL | 宽度： | 7.5 mm |
| Base Number Matches： | 1 |
| 型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
| SN74LVTH18646A | TI |
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS |
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| SN74LVTH18646A-EP | TI |
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3.3-V ABT SVAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS |
|
| SN74LVTH18646APM | TI |
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS |
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| SN74LVTH18646APMG4 | TI |
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES |
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| SN74LVTH18652A | TI |
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS |
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| SN74LVTH18652APM | TI |
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS |
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| SN74LVTH2245 | TI |
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3.3-V ABT OCTAL BUS TRANSCEIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS |
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| SN74LVTH2245DB | TI |
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3.3-V ABT OCTAL BUS TRANSCEIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS |
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| SN74LVTH2245DBLE | TI |
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3.3-V ABT OCTAL BUS TRANSCEIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS |
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| SN74LVTH2245DBR | TI |
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3.3-V ABT OCTAL BUS TRANSCEIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS |
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