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SN74LVT18504PM

更新时间： 2024-09-14 20:06:59
品牌 Logo 应用领域
德州仪器 - TI 输入元件信息通信管理逻辑集成电路
页数 文件大小 规格书
32页 456K
描述
3.3-V ABT Scan Test Devices With 20-Bit Universal Bus Transceivers 64-LQFP -40 to 85

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SN74LVT18504PM 技术参数

是否无铅： 含铅是否Rohs认证： 不符合
生命周期：Obsolete零件包装代码：QFP
包装说明：LFQFP, QFP64,.47SQ,20针数：64
Reach Compliance Code：not_compliant风险等级：5.56
其他特性：CLOCK ENABLE; BUS HOLD INPUTS; INPUTS CAN BE DRIVEN BY 3.3V OR 5V COMPONENTS控制类型：INDEPENDENT CONTROL
计数方向：BIDIRECTIONAL系列：LVT
JESD-30 代码：S-PQFP-G64长度：10 mm
负载电容（CL）：50 pF逻辑集成电路类型：BOUNDARY SCAN REG BUS TRANSCEIVER
最大I（ol）：0.064 A位数：20
功能数量：1端口数量：2
端子数量：64最高工作温度：85 °C
最低工作温度：-40 °C输出特性：3-STATE
输出极性：TRUE封装主体材料：PLASTIC/EPOXY
封装代码：LFQFP封装等效代码：QFP64,.47SQ,20
封装形状：SQUARE封装形式：FLATPACK, LOW PROFILE, FINE PITCH
峰值回流温度（摄氏度）：NOT SPECIFIED电源：3.3 V
最大电源电流（ICC）：15 mAProp。Delay @ Nom-Sup：7 ns
传播延迟（tpd）：8.8 ns认证状态：Not Qualified
座面最大高度：1.6 mm子类别：Bus Driver/Transceivers
最大供电电压 (Vsup)：3.6 V最小供电电压 (Vsup)：2.7 V
标称供电电压 (Vsup)：3.3 V表面贴装：YES
技术：BICMOS温度等级：INDUSTRIAL
端子形式：GULL WING端子节距：0.5 mm
端子位置：QUAD处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIED
翻译：N/A宽度：10 mm
Base Number Matches：1

SN74LVT18504PM 数据手册

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SN74LVT18504  
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICE  
WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS  
SCBS163F – AUGUST 1993 – REVISED JULY 1996  
Member of the Texas Instruments SCOPE  
Family of Testability Products  
Compatible With the IEEE Standard  
1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port  
and Boundary-Scan Architecture  
Member of the Texas Instruments  
Widebus Family  
SCOPE Instruction Set  
– IEEE Standard 1149.1-1990 Required  
Instructions and Optional CLAMP and  
HIGHZ  
– Parallel-Signature Analysis at Inputs  
– Pseudo-Random Pattern Generation  
From Outputs  
State-of-the-Art 3.3-V ABT Design Supports  
Mixed-Mode Signal Operation (5-V Input  
and Output Voltages With 3.3-V V  
)
CC  
Supports Unregulated Battery Operation  
Down to 2.7 V  
UBT (Universal Bus Transceiver)  
Combines D-Type Latches and D-Type  
Flip-Flops for Operation in Transparent,  
Latched, or Clocked Mode  
– Sample Inputs/Toggle Outputs  
– Binary Count From Outputs  
– Device Identification  
– Even-Parity Opcodes  
Bus-Hold Data Inputs Eliminate the Need  
for External Pullup Resistors  
Packaged in 64-Pin Plastic Thin Quad Flat  
Packages Using 0.5-mm Center-to-Center  
Spacings  
PM PACKAGE  
(TOP VIEW)  
64 63 62 61 60 59 58 57 56 55 54 53 52 51 50 49  
A4  
A5  
A6  
GND  
A7  
A8  
B5  
B6  
B7  
GND  
B8  
1
48  
47  
46  
45  
44  
43  
42  
41  
40  
39  
38  
37  
36  
35  
34  
33  
2
3
4
5
6
B9  
B10  
A9  
A10  
7
8
V
CC  
9
V
B11  
B12  
B13  
B14  
GND  
B15  
B16  
B17  
CC  
10  
11  
12  
13  
14  
15  
16  
A11  
A12  
A13  
GND  
A14  
A15  
A16  
17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32  
Please be aware that an important notice concerning availability, standard warranty, and use in critical applications of  
Texas Instruments semiconductor products and disclaimers thereto appears at the end of this data sheet.  
SCOPE, Widebus, and UBT are trademarks of Texas Instruments Incorporated.  
Copyright 1996, Texas Instruments Incorporated  
PRODUCTION DATA information is current as of publication date.  
Products conform to specifications per the terms of Texas Instruments  
standard warranty. Production processing does not necessarily include  
testing of all parameters.  
1
POST OFFICE BOX 655303 • DALLAS, TEXAS 75265  
1234567...32

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与SN74LVT18504PM相关器件

型号 品牌 获取价格 描述 数据表
SN74LVT18504PMLE TI

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 		LVT SERIES, 20-BIT BOUNDARY SCAN REG TRANSCEIVER, TRUE OUTPUT, PQFP64
SN74LVT18512 TI

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 		3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
SN74LVT18512DGG TI

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 		3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
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SN74LVT240A_08 TI

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SN74LVT240ADB TI

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 		3.3-V ABT OCTAL BUFFERS/DRIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS
SN74LVT240ADBG4 TI

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 		3.3-V ABT OCTAL BUFFER/DRIVER WITH 3-STATE OUTPUTS

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