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Datasheet > 逻辑 > 总线驱动器/收发器> SN74LVT18504
SN74LVT18504 PDF预览

SN74LVT18504

更新时间： 2024-09-14 11:58:35
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德州仪器 - TI 总线收发器测试
页数 文件大小 规格书
32页 456K
描述
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICE WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS

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SN74LVT18504 数据手册

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SCBS163F − AUGUST 1993 − REVISED JULY 1996  
D
D
D
Member of the Texas Instruments SCOPE   
D
Compatible With the IEEE Standard  
1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port  
and Boundary-Scan Architecture  
Family of Testability Products  
Member of the Texas Instruments  
WidebusFamily  
State-of-the-Art 3.3-V ABT Design Supports  
Mixed-Mode Signal Operation (5-V Input  
D
SCOPE Instruction Set  
− IEEE Standard 1149.1-1990 Required  
Instructions and Optional CLAMP and  
HIGHZ  
and Output Voltages With 3.3-V V  
)
CC  
− Parallel-Signature Analysis at Inputs  
− Pseudo-Random Pattern Generation  
From Outputs  
− Sample Inputs/Toggle Outputs  
− Binary Count From Outputs  
− Device Identification  
D
D
Supports Unregulated Battery Operation  
Down to 2.7 V  
UBT (Universal Bus Transceiver)  
Combines D-Type Latches and D-Type  
Flip-Flops for Operation in Transparent,  
Latched, or Clocked Mode  
− Even-Parity Opcodes  
D
Bus-Hold Data Inputs Eliminate the Need  
for External Pullup Resistors  
D
Packaged in 64-Pin Plastic Thin Quad Flat  
Packages Using 0.5-mm Center-to-Center  
Spacings  
PM PACKAGE  
(TOP VIEW)  
64 63 62 61 60 59 58 57 56 55 54 53 52 51 50 49  
A4  
A5  
A6  
GND  
A7  
A8  
B5  
B6  
B7  
GND  
B8  
1
48  
47  
46  
45  
44  
43  
42  
41  
40  
39  
38  
37  
36  
35  
34  
33  
2
3
4
5
6
B9  
B10  
A9  
A10  
7
8
V
CC  
9
V
B11  
B12  
B13  
B14  
GND  
B15  
B16  
B17  
CC  
10  
11  
12  
13  
14  
15  
16  
A11  
A12  
A13  
GND  
A14  
A15  
A16  
17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32  
Please be aware that an important notice concerning availability, standard warranty, and use in critical applications of  
Texas Instruments semiconductor products and disclaimers thereto appears at the end of this data sheet.  
SCOPE, Widebus, and UBT are trademarks of Texas Instruments Incorporated.  
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Copyright 1996, Texas Instruments Incorporated  
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POST OFFICE BOX 655303 • DALLAS, TEXAS 75265  
POST OFFICE BOX 1443 • HOUSTON, TEXAS 77251−1443  
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与SN74LVT18504相关器件

型号 品牌 获取价格 描述 数据表
SN74LVT18504PM TI

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 		3.3-V ABT Scan Test Devices With 20-Bit Universal Bus Transceivers 64-LQFP -40 to 85
SN74LVT18504PMLE TI

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 		LVT SERIES, 20-BIT BOUNDARY SCAN REG TRANSCEIVER, TRUE OUTPUT, PQFP64
SN74LVT18512 TI

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 		3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
SN74LVT18512DGG TI

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 		3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
SN74LVT18512DGGR TI

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 		3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
SN74LVT18652PMLE TI

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 		LVT SERIES, DUAL 9-BIT BOUNDARY SCAN REG TRANSCEIVER, TRUE OUTPUT, PQFP64
SN74LVT240A TI

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 		3.3-V ABT OCTAL BUFFERS/DRIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS
SN74LVT240A_07 TI

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 		3.3-V ABT OCTAL SUFFER/DRIBVER WITH 3-STATE OUTPUTS
SN74LVT240A_08 TI

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 		3.3-V ABT OCTAL BUFFER/DRIVER WITH 3-STATE OUTPUTS
SN74LVT240ADB TI

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 		3.3-V ABT OCTAL BUFFERS/DRIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS

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