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SN74HC10QDREP

更新时间： 2024-11-01 12:21:51
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德州仪器 - TI 输入元件
页数 文件大小 规格书
11页 540K
描述
TRIPLE 3-INPUT POSITIVE-NAND GATE

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SN74HC10QDREP 技术参数

是否无铅： 不含铅是否Rohs认证： 符合
生命周期：Active零件包装代码：SOIC
包装说明：SOP, SOP14,.25针数：14
Reach Compliance Code：compliantECCN代码：EAR99
HTS代码：8542.39.00.01Factory Lead Time：12 weeks
风险等级：0.73系列：HC/UH
JESD-30 代码：R-PDSO-G14JESD-609代码：e4
长度：8.65 mm负载电容（CL）：50 pF
逻辑集成电路类型：NAND GATE最大I（ol）：0.0052 A
湿度敏感等级：1功能数量：3
输入次数：3端子数量：14
最高工作温度：125 °C最低工作温度：-40 °C
封装主体材料：PLASTIC/EPOXY封装代码：SOP
封装等效代码：SOP14,.25封装形状：RECTANGULAR
封装形式：SMALL OUTLINE包装方法：TR
峰值回流温度（摄氏度）：260电源：2/6 V
最大电源电流（ICC）：0.04 mAProp。Delay @ Nom-Sup：29 ns
传播延迟（tpd）：145 ns认证状态：Not Qualified
施密特触发器：NO座面最大高度：1.75 mm
子类别：Gates最大供电电压 (Vsup)：6 V
最小供电电压 (Vsup)：2 V标称供电电压 (Vsup)：5 V
表面贴装：YES技术：CMOS
温度等级：AUTOMOTIVE端子面层：Nickel/Palladium/Gold (Ni/Pd/Au)
端子形式：GULL WING端子节距：1.27 mm
端子位置：DUAL处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIED
宽度：3.91 mmBase Number Matches：1

SN74HC10QDREP 数据手册

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SCLS558 − JANUARY 2004  
D
Controlled Baseline  
− One Assembly/Test Site, One Fabrication  
Site  
D
D
D
D
D
Outputs Can Drive Up To 10 LSTTL Loads  
Low Power Consumption, 20-µA Max I  
CC  
Typical t = 9 ns  
pd  
4-mA Output Drive at 5 V  
D
D
Extended Temperature Performance of  
−40°C to 125°C  
Enhanced Diminishing Manufacturing  
Sources (DMS) Support  
Low Input Current of 1 µA Max  
D OR PW PACKAGE  
(TOP VIEW)  
D
D
D
Enhanced Product-Change Notification  
†
Qualification Pedigree  
1A  
1B  
V
CC  
1
2
3
4
5
6
7
14  
Wide Operating Voltage Range of 2 V to 6 V  
13 1C  
12 1Y  
11 3C  
†
Component qualification in accordance with JEDEC and industry  
standards to ensure reliable operation over an extended  
temperature range. This includes, but is not limited to, Highly  
Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature  
cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond  
intermetallic life, and mold compound life. Such qualification  
testing should not be viewed as justifying use of this component  
beyond specified performance and environmental limits.  
2A  
2B  
10  
9
2C  
3B  
3A  
3Y  
2Y  
8
GND  
description/ordering information  
The SN74HC10 device contains three independent 3-input NAND gates. It performs the Boolean function  
Y = A • B • C or Y = A + B + C in positive logic.  
ORDERING INFORMATION  
ORDERABLE  
PART NUMBER  
TOP-SIDE  
MARKING  
‡
PACKAGE  
T
A
SOIC − D  
Tape and reel  
Tape and reel  
SN74HC10QDREP  
SHC10EP  
SHC10EP  
−40°C to 125°C  
TSSOP − PW  
SN74HC10QPWREP  
‡
Package drawings, standard packing quantities, thermal data, symbolization, and PCB design guidelines are  
available at www.ti.com/sc/package.  
FUNCTION TABLE  
(each gate)  
INPUTS  
OUTPUT  
Y
A
H
L
B
H
X
L
C
H
X
X
L
L
H
H
H
X
X
X
logic diagram (positive logic)  
A
B
C
Y
Please be aware that an important notice concerning availability, standard warranty, and use in critical applications of  
Texas Instruments semiconductor products and disclaimers thereto appears at the end of this data sheet.  
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ꢡ
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Copyright 2004, Texas Instruments Incorporated  
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1
POST OFFICE BOX 655303 • DALLAS, TEXAS 75265  
1234567...11

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SN74HC10QDREP 替代型号

型号 品牌 替代类型 描述 数据表
SN74HC10QDRQ1 TI

完全替代

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SN74HC10QDRG4Q1 TI

完全替代

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SN74HC112D TI

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 		DUAL J-K NEGATIVE-EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS WITH CLEAR AND PRESET
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 		HC/UH SERIES, DUAL NEGATIVE EDGE TRIGGERED J-K FLIP-FLOP, COMPLEMENTARY OUTPUT, PDSO16

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