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SN74ALS617N

更新时间: 2024-11-16 15:52:07
品牌 Logo 应用领域
德州仪器 - TI 光电二极管逻辑集成电路
页数 文件大小 规格书
12页 354K
描述
ALS SERIES, 16-BIT ERROR DETECT AND CORRECT CKT, PDIP40

SN74ALS617N 技术参数

是否Rohs认证: 不符合生命周期:Obsolete
包装说明:DIP, DIP40,.6Reach Compliance Code:not_compliant
HTS代码:8542.39.00.01风险等级:5.92
其他特性:BUILT IN DIAGNOSTICS; BYTE CONTROL系列:ALS
JESD-30 代码:R-PDIP-T40长度:52.455 mm
负载电容(CL):50 pF逻辑集成电路类型:ERROR DETECTION AND CORRECTION CIRCUIT
位数:16功能数量:1
端子数量:40最高工作温度:70 °C
最低工作温度:输出特性:OPEN-COLLECTOR
封装主体材料:PLASTIC/EPOXY封装代码:DIP
封装等效代码:DIP40,.6封装形状:RECTANGULAR
封装形式:IN-LINE峰值回流温度(摄氏度):NOT SPECIFIED
传播延迟(tpd):65 ns认证状态:Not Qualified
座面最大高度:5.08 mm子类别:Arithmetic Circuits
最大供电电压 (Vsup):5.5 V最小供电电压 (Vsup):4.5 V
标称供电电压 (Vsup):5 V表面贴装:NO
技术:TTL温度等级:COMMERCIAL
端子形式:THROUGH-HOLE端子节距:2.54 mm
端子位置:DUAL处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIED
宽度:15.24 mmBase Number Matches:1

SN74ALS617N 数据手册

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