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SN74ALS617JD

更新时间: 2024-09-29 15:52:07
品牌 Logo 应用领域
德州仪器 - TI 逻辑集成电路
页数 文件大小 规格书
12页 354K
描述
ALS SERIES, 16-BIT ERROR DETECT AND CORRECT CKT, CDIP40

SN74ALS617JD 技术参数

是否Rohs认证:不符合生命周期:Obsolete
Reach Compliance Code:not_compliantHTS代码:8542.39.00.01
风险等级:5.92Is Samacsys:N
其他特性:BUILT IN DIAGNOSTICS; BYTE CONTROL系列:ALS
JESD-30 代码:R-CDIP-T40负载电容(CL):50 pF
逻辑集成电路类型:ERROR DETECTION AND CORRECTION CIRCUIT位数:16
功能数量:1端子数量:40
最高工作温度:70 °C最低工作温度:
输出特性:OPEN-COLLECTOR封装主体材料:CERAMIC, METAL-SEALED COFIRED
封装代码:DIP封装等效代码:DIP40,.6
封装形状:RECTANGULAR封装形式:IN-LINE
峰值回流温度(摄氏度):NOT SPECIFIED传播延迟(tpd):65 ns
认证状态:Not Qualified子类别:Arithmetic Circuits
最大供电电压 (Vsup):5.5 V最小供电电压 (Vsup):4.5 V
标称供电电压 (Vsup):5 V表面贴装:NO
技术:TTL温度等级:COMMERCIAL
端子形式:THROUGH-HOLE端子节距:2.54 mm
端子位置:DUAL处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIED
Base Number Matches:1

SN74ALS617JD 数据手册

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