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Datasheet > 逻辑 > 栅极> SN74AHC1G02MDCKREP
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SN74AHC1G02MDCKREP

更新时间： 2024-09-13 12:21:47
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德州仪器 - TI 输入元件
页数 文件大小 规格书
10页 532K
描述
SINGLE 2-INPUT POSITIVE-NOR GATE

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SN74AHC1G02MDCKREP 技术参数

是否无铅： 不含铅是否Rohs认证： 符合
生命周期：Active零件包装代码：SOIC
包装说明：TSSOP, TSSOP5/6,.08针数：5
Reach Compliance Code：compliantECCN代码：EAR99
HTS代码：8542.39.00.01风险等级：1.42
系列：AHC/VHC/H/U/VJESD-30 代码：R-PDSO-G5
JESD-609代码：e4长度：2 mm
负载电容（CL）：50 pF逻辑集成电路类型：NOR GATE
最大I（ol）：0.05 A湿度敏感等级：1
功能数量：1输入次数：2
端子数量：5最高工作温度：125 °C
最低工作温度：-55 °C封装主体材料：PLASTIC/EPOXY
封装代码：TSSOP封装等效代码：TSSOP5/6,.08
封装形状：RECTANGULAR封装形式：SMALL OUTLINE, THIN PROFILE, SHRINK PITCH
包装方法：TR峰值回流温度（摄氏度）：260
电源：2/5.5 V最大电源电流（ICC）：0.01 mA
Prop。Delay @ Nom-Sup：8.5 ns传播延迟（tpd）：13 ns
认证状态：Not Qualified施密特触发器：NO
座面最大高度：1.1 mm子类别：Gate
最大供电电压 (Vsup)：5.5 V最小供电电压 (Vsup)：2 V
标称供电电压 (Vsup)：3.3 V表面贴装：YES
技术：CMOS温度等级：MILITARY
端子面层：Nickel/Palladium/Gold (Ni/Pd/Au)端子形式：GULL WING
端子节距：0.65 mm端子位置：DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIED宽度：1.25 mm
Base Number Matches：1

SN74AHC1G02MDCKREP 数据手册

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SN74AHC1G02-EP  
SINGLE 2-INPUT POSITIVE-NOR GATE  
www.ti.com  
SCLS708–FEBRUARY 2008  
1
FEATURES  
•
•
•
•
•
Operating Range of 2 V to 5.5 V  
Max tpd of 8.5 ns at 5 V  
•
Controlled Baseline  
–
–
–
One Assembly Site  
One Test Site  
Low Power Consumption, 10 µA Max ICC  
±8 mA Output Drive at 5 V  
One Fabrication Site  
Schmitt Trigger Action at All Inputs Makes the  
Circuit Tolerant for Slower Input Rise and Fall  
Time  
•
•
Extended Temperature Performance of –55°C  
to 125°C  
•
ESD Protection Exceeds JESD 22  
Enhanced Diminishing Manufacturing Sources  
(DMS) Support  
–
–
–
2000-V Human-Body Model (A114-A)  
200-V Machine Model (A115-A)  
•
•
Enhanced Product-Change Notification  
(1)  
Qualification Pedigree  
1000-V Charged-Device Model (C101)  
(1) Component qualification in accordance with JEDEC and  
industry standards to ensure reliable operation over an  
extended temperature range. This includes, but is not limited  
to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85,  
temperature cycle, autoclave or unbiased HAST,  
electromigration, bond intermetallic life, and mold compound  
life. Such qualification testing should not be viewed as  
justifying use of this component beyond specified  
performance and environmental limits.  
DCK PACKAGE  
(TOP VIEW)  
DBV PACKAGE  
(TOP VIEW)  
DRL PACKAGE  
(TOP VIEW)  
A
B
VCC  
1
2
3
5
1
2
3
5
A
B
VCC  
1
2
3
5
4
A
B
VCC  
4
GND  
Y
4
GND  
Y
Y
GND  
See mechanical drawings for dimensions.  
DESCRIPTION/ORDERING INFORMATION  
This device contains a single 2-input NOR gate that performs the Boolean function Y = A • B or Y = A + B in  
positive logic.  
ORDERING INFORMATION(1)  
ORDERABLE PART  
TA  
PACKAGE(2)  
SOT (SC-70) - DCK Reel of 3000  
TOP-SIDE MARKING  
CGC  
NUMBER  
–55°C to 125°C  
SN74AHC1G02MDCKREP  
(1) For the most current package and ordering information, see the Package Option Addendum at the end of this document, or see the TI  
website at www.ti.com.  
(2) Package drawings, thermal data, and symbolization are available at www.ti.com/packaging.  
1
Please be aware that an important notice concerning availability, standard warranty, and use in critical applications of  
Texas Instruments semiconductor products and disclaimers thereto appears at the end of this data sheet.  
PRODUCTION DATA information is current as of publication date.  
Copyright © 2008, Texas Instruments Incorporated  
Products conform to specifications per the terms of the Texas  
Instruments standard warranty. Production processing does not  
necessarily include testing of all parameters.  
1234567...10

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SN74AHC1G02MDCKREP 替代型号

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