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Datasheet > 逻辑 > 总线驱动器/收发器> SN74ABT18504HV
SN74ABT18504HV PDF预览

SN74ABT18504HV

更新时间： 2024-11-11 13:13:47
品牌 Logo 应用领域
德州仪器 - TI 总线收发器测试
页数 文件大小 规格书
34页 666K
描述
IC,BUS TRANSCEIVER,SINGLE,20-BIT,BICMOS-TTL,QFL,68PIN,CERAMIC

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SN74ABT18504HV 技术参数

是否Rohs认证： 不符合生命周期：Obsolete
包装说明：QFF, QFL68,.5SQ,25Reach Compliance Code：not_compliant
风险等级：5.92控制类型：INDEPENDENT CONTROL
计数方向：BIDIRECTIONALJESD-30 代码：S-XQFP-F68
逻辑集成电路类型：BOUNDARY SCAN REG BUS TRANSCEIVER最大I（ol）：0.064 A
位数：20功能数量：1
端子数量：68最高工作温度：85 °C
最低工作温度：-40 °C输出特性：3-STATE
输出极性：TRUE封装主体材料：CERAMIC
封装代码：QFF封装等效代码：QFL68,.5SQ,25
封装形状：SQUARE封装形式：FLATPACK
电源：5 V最大电源电流（ICC）：88 mA
Prop。Delay @ Nom-Sup：6 ns认证状态：Not Qualified
子类别：Bus Driver/Transceivers标称供电电压 (Vsup)：5 V
表面贴装：YES温度等级：INDUSTRIAL
端子形式：FLAT端子节距：0.635 mm
端子位置：QUADBase Number Matches：1

SN74ABT18504HV 数据手册

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SN54ABT18504, SN74ABT18504  
SCAN TEST DEVICES WITH  
20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS  
SCBS108B – AUGUST 1992 – REVISED JUNE 1993  
• Members of the Texas Instruments  
• SCOPE Instruction Set  
– IEEE Standard 1149.1-1990 Required  
Instructions, Optional INTEST, and  
P1149.1A CLAMP and HIGHZ  
– Parallel Signature Analysis at Inputs With  
Masking Option  
SCOPE Family of Testability Products  
• Members of the Texas Instruments  
Widebus Family  
• Compatible With the IEEE Standard  
1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and  
Boundary-Scan Architecture  
– Pseudo-Random Pattern Generation  
From Outputs  
• UBT (Universal Bus Transceiver)  
Combines D-Type Latches and D-Type  
Flip-Flops for Operation in Transparent,  
Latched, or Clocked Mode  
– Sample Inputs/Toggle Outputs  
– Binary Count From Outputs  
– Device Identification  
– Even-Parity Opcodes  
• Two Boundary-Scan Cells per I/O for  
• Packaged in 64-Pin Plastic Thin Quad Flat  
Pack Using 0.5-mm Center-to-Center  
Spacings and 68-Pin Ceramic Quad Flat  
Pack Using 25-mil Center-to-Center  
Spacings  
Greater Flexibility  
• State-of-the-Art EPIC-ΙΙB BiCMOS Design  
Significantly Reduces Power Dissipation  
SN54ABT18504 . . . HV PACKAGE  
(TOP VIEW)  
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2 1 68 67 66 65 64 63 62 61  
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GND  
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A10  
NC  
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B7  
GND  
B8  
B9  
B10  
V
CC  
NC  
V
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GND  
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B16  
B17  
CC  
A11  
A12  
A13  
GND  
A14  
A15  
A16  
27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43  
NC – No internal connection  
SCOPE, Widebus, UBT, and EPIC-ΙΙB are trademarks of Texas Instruments Incorporated.  
Copyright 1993, Texas Instruments Incorporated  
UNLESS OTHERWISE NOTED this document contains PRODUCTION  
DATA information current as of publication date. Products conform to  
specifications per the terms of Texas Instruments standard warranty.  
Production processing does not necessarily include testing of all  
parameters.  
1
POST OFFICE BOX 655303 • DALLAS, TEXAS 75265  
1234567...34

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型号 品牌 获取价格 描述 数据表
SN74ABT18504PM TI

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 		SCAN TEST DEVICES WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
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SN74ABT18640DLR TI

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