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SN65LVP19

更新时间： 2024-11-28 11:15:35
品牌 Logo 应用领域
德州仪器 - TI 振荡器
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17页 879K
描述
具有使能端的 2.5V/3.3V 振荡器增益级/缓冲器

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SN65LVP19 数据手册

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SN65LVDS18, SN65LVP18  
SN65LVDS19, SN65LVP19  
www.ti.com  
SLLS624B–SEPTEMBER 2004–REVISED NOVEMBER 2005  
2.5-V/3.3-V OSCILLATOR GAIN STAGE/BUFFERS  
FEATURES  
•
2-mm x 2-mm Small-Outline  
No-Lead Package  
•
Low-Voltage PECL Input and Low-Voltage  
PECL or LVDS Outputs  
APPLICATIONS  
•
•
•
Clock Rates to 1 GHz  
PECL-to-LVDS Translation  
Clock Signal Amplification  
– 250-ps Output Transition Times  
– 0.12 ps Typical Intrinsic Phase Jitter  
– Less than 630 ps Propagation Delay Times  
2.5-V or 3.3-V Supply Operation  
•
DESCRIPTION  
These four devices are high frequency oscillator gain stages supporting both LVPECL or LVDS on the high gain  
outputs in 3.3-V or 2.5-V systems. Additionally, provides the option of both single-ended input (PECL levels on  
the SN65LVx18) and fully differential inputs on the SN65LVx19.  
The SN65LVx18 provides the user a Gain Control (GC) for controlling the Q output from 300 mV to 860 mV  
either by leaving it open (NC), grounded, or tied to VCC. (When left open, the Q output defaults to 575 mV.) The  
Q on the SN65LVx19 defaults to 575 mV as well.  
Both devices provide a voltage reference (VBB) of typically 1.35 V below VCC for use in receiving single-ended  
PECL input signals. When not used, VBB should be unconnected or open.  
All devices are characterized for operation from –40°C to 85°C.  
SN65LVDS19, SN65LVP19  
4 mA  
SN65LVDS18, SN65LVP18  
4 mA  
Q
Q
A
Y
Z
A
B
Y
Z
V
BB  
V
V
REF  
V
CC  
V
BB  
V
CC  
REF  
EN  
EN  
GC  
Please be aware that an important notice concerning availability, standard warranty, and use in critical applications of Texas  
Instruments semiconductor products and disclaimers thereto appears at the end of this data sheet.  
PRODUCTION DATA information is current as of publication date.  
Products conform to specifications per the terms of the Texas  
Instruments standard warranty. Production processing does not  
necessarily include testing of all parameters.  
Copyright © 2004–2005, Texas Instruments Incorporated  
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