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Datasheet > 电信电路 > 网络接口> SN65HVD230M-EP
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SN65HVD230M-EP

更新时间： 2024-11-05 11:58:19
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德州仪器 - TI /
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31页 770K
描述
3.3-V CAN TRANSCEIVERS

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SGLS356 − MAY 2006  
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D
D
Low-Current SN65HVD230M Standby Mode  
FEATURES  
370 µA Typical  
Designed for Signaling Rates Up To  
D
Controlled Baseline  
− One Assembly/Test Site, One Fabrication  
Site  
‡
1 Megabit/Second (Mbps)  
D
Thermal Shutdown Protection  
Open-Circuit Fail-Safe Design  
D
D
D
D
D
D
Extended Temperature Performance of −55°C  
to 125°C  
Enhanced Diminishing Manufacturing  
Sources (DMS) Support  
D
†
Component qualification in accordance with JEDEC and industry  
standards to ensure reliable operation over an extended  
temperature range. This includes, but is not limited to, Highly  
Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle,  
autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic  
life, and mold compound life. Such qualification testing should not  
be viewed as justifying use of this component beyond specified  
performance and environmental limits.  
Enhanced Product-Change Notification  
†
Qualification Pedigree  
Operates With a 3.3-V Supply  
Low Power Replacement for the PCA82C250  
Footprint  
SN65HVD230MD  
(TOP VIEW)  
D
Bus/Pin ESD Protection Exceeds 15-kV HBM  
D
R
D
Controlled Driver Output Transition Times for  
Improved Signal Quality on the  
SN65HVD230M  
1
2
3
4
8
7
6
5
S
GND  
CANH  
CANL  
V
CC  
R
V
D
D
Unpowered Node Does Not Disturb the Bus  
ref  
Compatible With the Requirements of the  
ISO 11898 Standard  
logic diagram (positive logic)  
SN65HVD230M  
Logic Diagram (Positive Logic)  
3
5
V
V
ref  
CC  
D
1
8
R
S
7
6
CANH  
CANL  
4
R
Please be aware that an important notice concerning availability, standard warranty, and use in critical applications of Texas Instruments  
semiconductor products and disclaimers thereto appears at the end of this data sheet.  
‡
The signaling rate of a line is the number of voltage transitions that are made per second expressed in the units bps (bits per second).  
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Copyright 2006, Texas Instruments Incorporated  
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1
www.ti.com  
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