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SM5510LCX-0.5M-T1K

更新时间： 2024-10-29 19:57:07

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PLETRONICS		机械振荡器
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CMOS Output Clock Oscillator

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SM5510LCX-0.5M-T1K 技术参数

是否无铅：	不含铅	是否Rohs认证：	符合
生命周期：	Active	Reach Compliance Code：	compliant
风险等级：	5.71	其他特性：	STANDBY; ENABLE/DISABLE FUNCTION
最长下降时间：	5 ns	频率调整-机械：	NO
频率稳定性：	10%	JESD-609代码：	e4
安装特点：	SURFACE MOUNT	端子数量：	4
标称工作频率：	0.5 MHz	最高工作温度：	70 °C
最低工作温度：	-20 °C	振荡器类型：	CMOS
输出负载：	15 pF	物理尺寸：	5.0mm x 3.2mm x 1.15mm
最长上升时间：	5 ns	最大供电电压：	1.98 V
最小供电电压：	1.62 V	标称供电电压：	1.8 V
表面贴装：	YES	最大对称度：	55/45 %
端子面层：	Gold (Au) - with Nickel (Ni) barrier	Base Number Matches：	1

SM5510LCX-0.5M-T1K 数据手册

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SM55L Series 1.8 V

CMOS Clock Oscillators

June 2013

• Pletronics’ SM55 Series is a quartz crystal

controlled precision square wave generator with a

CMOS output.

• 0.5 to 50 MHz

• 3.2 x 5 mm LCC Ceramic Package

• Enable/Disable Function

• Disable function includes low standby power

mode

• The package is designed for high density surface

mount designs.

• This is a low cost mass produced oscillator.

• Tape and Reel or cut tape packaging is available.

• Low Jitter

Pletronics Inc. certifies this device is in accordance with the

RoHS 6/6 (2002/95/EC) and WEEE (2002/96/EC) directives.

Pletronics Inc. guarantees the device does not contain the following:

Cadmium, Hexavalent Chromium, Lead, Mercury, PBB’s, PBDE’s

Weight of the Device: 0.064 grams

Moisture Sensitivity Level: 1 As defined in J-STD-020C

Second Level Interconnect code: e4

Absolute Maximum Ratings:

Parameter

Unit

Supply Voltage

-0.5V to +7.0V

Input Voltage

-0.5V to V + 0.5V

Vo Output Voltage

-0.5V to V + 0.5V

Io Output Current

+25 mA to -25 mA

Thermal Characteristics

The maximum die or junction temperature is 155 C

The thermal resistance junction to board is 30 to 50 C/Watt depending on the solder pads, ground plane

and construction of the PCB.

Product information is current as of publication date. The product conforms

Inc.

to specifications per the terms of the Pletronics standard warranty. Production

processsing does not necessarily include testing of all parameters.

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