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OPA657TD1

更新时间: 2024-10-28 11:14:27
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德州仪器 - TI 放大器运算放大器
页数 文件大小 规格书
5页 255K
描述
裸片 1.6GHz 低噪声 FET 输入运算放大器 | TD | 0 | -40 to 85

OPA657TD1 技术参数

是否Rohs认证: 不符合生命周期:Active
包装说明:DIE,Reach Compliance Code:not_compliant
Factory Lead Time:6 weeks风险等级:5.82
放大器类型:OPERATIONAL AMPLIFIER架构:VOLTAGE-FEEDBACK
最大平均偏置电流 (IIB):0.00002 µA25C 时的最大偏置电流 (IIB):0.00001 µA
最小共模抑制比:83 dB标称共模抑制比:89 dB
频率补偿:YES最大输入失调电流 (IIO):0.00001 µA
最大输入失调电压:1800 µVJESD-30 代码:R-XUUC-N7
长度:0.988 mm低-偏置:YES
低-失调:YES微功率:NO
功能数量:1端子数量:7
最高工作温度:85 °C最低工作温度:-40 °C
封装主体材料:UNSPECIFIED封装代码:DIE
封装形状:RECTANGULAR封装形式:UNCASED CHIP
峰值回流温度(摄氏度):NOT SPECIFIED功率:NO
可编程功率:NO标称压摆率:700 V/us
子类别:Operational Amplifier最大压摆率:16 mA
表面贴装:YES温度等级:INDUSTRIAL
端子形式:NO LEAD端子位置:UPPER
处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIED标称均一增益带宽:1600000 kHz
最小电压增益:1778.279宽带:YES
宽度:0.866 mmBase Number Matches:1

OPA657TD1 数据手册

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OPA657-DIE  
ZHCSFC1 AUGUST 2016  
OPA657-DIE 1.6GHz、低噪声、FET 输入运算放大器  
1 特性  
3 说明  
1
高增益带宽积:1.6GHz  
OPA657 器件将高增益带宽、低失真、电压反馈运算  
放大器与低电压噪声结型场效应管 (JFET) 输入级相结  
合,为高精度模数转换器 (ADC) 的驱动或宽带互阻抗  
应用提供了一个动态范围较大的放大器。光电二极管  
应用使用 这种非完全补偿型高增益带宽放大器降低噪  
声并改善带宽。  
高带宽:275MHz (G = 10)  
转换率:700V/µsG = 10,步长为 1V)  
低输入偏移电压:±250µV  
低输入偏置电流:2pA  
低输入电压噪声:4.8nV/Hz  
高输出电流:70mA  
极低电平信号可在带宽和精度特性优异的单一  
快速过驱恢复  
OPA657 增益级中得到显着放大。即使对于相对较高  
的源阻抗,极低的输入偏置电流和电容也支持这种性  
能。宽带光电探测器应用受益于 OPA657 的 低电压 噪  
JFET 输入。JFET 输入几乎不产生电流噪声,该器  
件因此成为高增益光电二极管应用的 理想选择。  
2 应用  
宽带光电二极管放大器  
晶圆扫描设备  
模数转换器 (ADC) 输入放大器  
测试和测量前端  
高增益精密放大器  
光时域反射计 (OTDR)  
Ordering Information(1)  
PACKAGE  
PRODUCT  
PACKAGE  
ORDERABLE PART NUMBER  
PACKAGE QUANTITY  
DESIGNATOR  
OPA657TD1  
OPA657TD2  
324  
10  
OPA657  
TD  
Bare Die in Gel Pak VR(2)  
(1) For the most current package and ordering information, see the Package Option Addendum at the end of this document, or see the TI  
web site at www.ti.com.  
(2) Processing is per the Texas Instruments commercial production baseline and is in compliance with the Texas Instruments Quality  
Control System in effect at the time of manufacture. Electrical screening consists of DC parametric and functional testing at room  
temperature only. Unless otherwise specified by Texas Instruments AC performance and performance over temperature is not  
warranted. Visual Inspection is performed in accordance with MIL-STD-883 Test Method 2010 Condition B at 75X minimum.  
1
An IMPORTANT NOTICE at the end of this data sheet addresses availability, warranty, changes, use in safety-critical applications,  
intellectual property matters and other important disclaimers. PRODUCTION DATA.  
English Data Sheet: SBOS787  

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