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OED4202-20.00M

更新时间： 2024-11-21 20:00:11

品牌	Logo	应用领域
PLETRONICS		机械振荡器
页数	文件大小	规格书
6页	93K
描述
CMOS Output Clock Oscillator, 20MHz Nom, ROHS COMPLIANT, CERAMIC, LCC-8

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OED4202-20.00M 技术参数

是否Rohs认证：	符合	生命周期：	Active
Reach Compliance Code：	compliant	风险等级：	5.6
其他特性：	TAPE AND REEL	老化：	1 PPM/ONE YEAR
最大控制电压：	2.5 V	最小控制电压：	0.5 V
最长下降时间：	6.5 ns	频率调整-机械：	NO
频率偏移/牵引率：	10 ppm	频率稳定性：	0.1%
JESD-609代码：	e4	安装特点：	SURFACE MOUNT
标称工作频率：	20 MHz	最高工作温度：	85 °C
最低工作温度：	-40 °C	振荡器类型：	CMOS
输出负载：	10 KOHM, 10 pF	物理尺寸：	5.0mm x 3.2mm x 1.5mm
最长上升时间：	6.5 ns	最大供电电压：	3.47 V
最小供电电压：	3.13 V	标称供电电压：	3.3 V
表面贴装：	YES	最大对称度：	60/40 %
端子面层：	Gold (Au) - with Nickel (Ni) barrier	Base Number Matches：	1

OED4202-20.00M 数据手册

OeD4202-20.00M

TCVCXO Oscillator

November 2010

• Pletronics’ OeD4 is from the OeXO™ Series of

temperature compensated voltage controlled

crystal oscillator with a CMOS output.

• 3.2 x 5 mm LCC Ceramic Package

• Supply Voltage range: 3.3V

• Cut Tape -or- Tape and Reel packaging

Pletronics Inc. certifies this device is in accordance with the

RoHS 6/6 (2002/95/EC) and WEEE (2002/96/EC) directives.

Pletronics Inc. guarantees the device does not contain the following:

Cadmium, Hexavalent Chromium, Lead, Mercury, PBB’s, PBDE’s

Weight of the Device: 0.10 grams

Moisture Sensitivity Level: 1 As defined in J-STD-020D.1

Second Level Interconnect code: e4

Absolute Maximum Ratings:

Parameter

Unit

V_CCSupply Voltage

Vi Input Voltage

Vo Output Voltage

-0.5V to +6.5V

-0.5V to V_CC+ 0.5V

Thermal Characteristics

The maximum die or junction temperature is 155^oC

The thermal resistance junction to board is 30 to 50^oC/Watt depending on the solder pads, ground plane

and construction of the PCB.

ESD Rating

Model

Minimum Voltage

Conditions

Human Body Model

Charged Device Model

1500

1000

MIL-STD-883 Method 3115

JESD 22-C101

Product information is current as of publication date. The product conforms

to specifications per the terms of the Pletronics standard warranty. Production

processsing does not necessarily include testing of all parameters.

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