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NTE5481

更新时间: 2024-11-01 21:55:19
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NTE 可控硅整流器
页数 文件大小 规格书
2页 25K
描述
Silicon Controlled Rectifier (SCR) 8 Amp

NTE5481 技术参数

是否Rohs认证: 符合生命周期:Active
包装说明:POST/STUD MOUNT, O-MUPM-D2Reach Compliance Code:unknown
ECCN代码:EAR99HTS代码:8541.30.00.80
风险等级:5.78外壳连接:ANODE
配置:SINGLE最大直流栅极触发电流:30 mA
最大直流栅极触发电压:1.5 V最大维持电流:30 mA
JEDEC-95代码:TO-64JESD-30 代码:O-MUPM-D2
通态非重复峰值电流:100 A元件数量:1
端子数量:2最大通态电流:8000 A
封装主体材料:METAL封装形状:ROUND
封装形式:POST/STUD MOUNT峰值回流温度(摄氏度):NOT SPECIFIED
认证状态:Not Qualified最大均方根通态电流:8 A
断态重复峰值电压:50 V重复峰值反向电压:50 V
子类别:Silicon Controlled Rectifiers表面贴装:NO
端子形式:SOLDER LUG端子位置:UPPER
处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIED触发设备类型:SCR

NTE5481 数据手册

 浏览型号NTE5481的Datasheet PDF文件第2页 
NTE5480 thru NTE5487  
Silicon Controlled Rectifier (SCR)  
8 Amp  
Description:  
The NTE5480 through NTE5487 are multi–purpose PNPN silicon controlled rectifiers in a TO64 type  
package suited for industrial and consumer applications. These 8 amp devices are available in volt-  
ages ranging from 25V to 600V.  
Features:  
D Uniform Low–Level Noise–Immune Gate Triggering: IGT = 10mA Typ @ TC = +25°C  
D Low Forward “ON” Voltage: vT = 1V Typ @ 5A @ +25°C  
D High Surge–Current Capability: ITSM = 100A Peak  
D Shorted Emitter Construction  
Absolute Maximum Ratings: (TJ = –40° to +100°C unless otherwise specified)  
Peak Repetitive Forward and Reverse Blocking Voltage (Note 1), VDRM or VRRM  
NTE5480 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25V  
NTE5481 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50V  
NTE5482 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100V  
NTE5483 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 200V  
NTE5484 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 300V  
NTE5485 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 400V  
NTE5486 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 500V  
NTE5487 (This device is discontinued) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 600V  
Forward Current RMS, IT(RMS) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8A  
Peak Forward Surge Current (One Cycle, 60Hz, TJ = –40° to +100°C, ITSM . . . . . . . . . . . . . . . 100A  
Circuit Fusing (t 8.3ms, TJ = –40° to +100°C), I2t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40A2s  
Peak Gate Power, PGM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5W  
Average Gate Power, PG(AV) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 0.5W  
Peak Gate Current, IGM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2A  
Peak Gate Voltage (Note 2), VGM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10V  
Operating Temperature Range, TJ . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . –40° to +100°C  
Storage Temperature Range, Tstg . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . –40° to +150°C  
Typical Thermal Resistance, Junction–to–Case, RthJC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1.5°C/W  
Typical Thermal Resistance, Case–to–Ambient, RthJA . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50°C/W  
Note 1. Ratings apply for zero or negative gate voltage. Devices should not be tested for blocking  
capability in a manner such that the voltage applied exceeds the rated blocking voltage.  
Note 2. Devices should not be operated with a positive bias applied to the gate concurrently with a  
negative potential applied to the anode.  

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