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NTE4066BT

更新时间： 2024-11-03 20:06:35

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NTE		/
页数	文件大小	规格书
4页	80K
描述
Analog Circuit,

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NTE4066BT 技术参数

生命周期：	Active	包装说明：	,
Reach Compliance Code：	unknown	风险等级：	5.57
模拟集成电路 - 其他类型：	ANALOG CIRCUIT	Base Number Matches：	1

NTE4066BT 数据手册

NTE4066B & NTE4066BT

Integrated Circuit

CMOS, Quad Bilateral Switch

Description:

The NTE4066B (14−Lead DIP) and NTE4066BT (SOIC−14) are integrated circuits consisting of

four independent switches capable of controlling either digital or analog signals. These quad bilateral

switches are useful in signal gating, chopper, modulator, demodulator, and CMOS logic implementa-

tion.

The NTE4066B/BT is designed to be pin−for−pin compatible with the NTE4016B/BT, but has much

lower ON resistance. Input voltage swings as large as the full supply voltage can be controlled via

each independent control input.

Features:

D Triple Diode Protection on All Control Inputs

D Supply Voltage Range: 3V to 18V

D Linearized Transfer Characteristics

D Low Noise: 12nV/pCycle, f ≥ 1kHz typical

Absolute Maximum Ratings: (Voltages Referenced to V_SS, Note 1, Note 2)

DC Supply Voltage, V_DD. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . −0.5 to +18.0V

Input Voltage (DC or Transient), V_in. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . −0.5 to V_DDto +0.5V

Output Voltage (DC or Transient), V_out. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . −0.5 to V_DDto +0.5V

Input Current (DC or Transient, Per Pin), I_in. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10mA

Output Current (DC or Transient, Per Pin), I_out. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10mA

Switch Through Current, I_SW. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25mA

Power Dissipation (Per Package), P_D. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 500mW

Temperature Derating (from +65° to +125°C) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . −7.0mW/°C

Ambient Temperature Range, T_A. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . −55° to +125°C

Storage Temperature Range, T_stg. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . −65° to +150°C

Lead Temperature (During Soldering, 8sec max), T_L. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . +260°C

Note 1. Stresses exceeding maximum Ratings may damage the device. Maximum Ratings are

stress ratings only. Functional operation above the Recommended Operating Conditions is

not implied. Extended exposure to stresses above the Recommended Operating Conditions

may affect device reliability.

Note 2. These devices contain protection circuitry to guard against damage due to high static

voltages or electric fields. However, precautions must be taken to avoid applications of any

voltage higher than maximum rated voltages to this high−impedance circuit. For proper op-

eration, V_inand V_outshould be constrained to the range V_SS≤ (V_inor V_out) ≤ V_DD.

Unused inputs must always be tied to an appropriate logic voltage level (e.g. eiher V_SS, V_EE

or V_DD), Unused outputs must be left open.

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