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NTE16000-ECG

更新时间: 2024-11-18 22:54:23
品牌 Logo 应用领域
NTE 电阻器非线性电阻器
页数 文件大小 规格书
4页 93K
描述
Polymeric Positive Temperature Coefficient (PTC) Resettable Fuses

NTE16000-ECG 技术参数

生命周期:ActiveReach Compliance Code:unknown
风险等级:2.03Base Number Matches:1

NTE16000-ECG 数据手册

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NTE16000–ECG thru NTE16022–ECG  
Polymeric Positive Temperature Coefficient (PTC)  
Resettable Fuses  
ELECTRICAL CHARACTERISTICS  
1 Hour (R )  
1
Post–Trip  
Resistance  
Max. Time  
To Trip at 5*lh  
Tripped Power  
Dissipation  
I
I
Initial resistance  
Hold  
Trip  
Amperes at 235C  
Ohms at 235C  
Ohms at 235C Seconds at 235C Watts at 235C  
Diag. V max. I max.  
Hold  
0.10  
0.17  
0.20  
0.25  
0.30  
0.40  
0.50  
0.65  
0.75  
0.90  
0.90  
1.10  
1.35  
1.60  
1.85  
2.50  
3.00  
4.00  
5.00  
6.00  
7.00  
8.00  
9.00  
Trip  
0.20  
0.34  
0.40  
0.50  
0.60  
0.80  
1.00  
1.30  
1.50  
1.80  
1.80  
2.20  
2.70  
3.20  
3.70  
5.00  
6.00  
8.00  
10.00  
12.00  
14.00  
16.00  
18.00  
Min.  
2.50  
2.00  
1.50  
1.00  
0.76  
0.52  
0.41  
0.27  
0.18  
0.14  
0.07  
0.10  
0.065  
0.055  
0.04  
0.025  
0.02  
0.01  
0.01  
0.005  
0.005  
0.005  
0.005  
Max  
4.50  
3.20  
2.84  
1.95  
1.36  
0.86  
0.77  
0.48  
0.40  
0.31  
0.12  
0.18  
0.115  
0.105  
0.07  
0.048  
0.05  
0.03  
0.03  
0.02  
0.02  
0.02  
0.01  
Max.  
NTE Type No.  
16000–ECG  
16001–ECG  
16002–ECG  
16003–ECG  
16004–ECG  
16005–ECG  
16006–ECG  
16007–ECG  
16008–ECG  
16009–ECG  
16010–ECG  
16011–ECG  
16012–ECG  
16013–ECG  
16014–ECG  
16015–ECG  
16016–ECG  
16017–ECG  
16018–ECG  
16019–ECG  
16020–ECG  
16021–ECG  
16022–ECG  
No.  
629  
629  
629  
629  
629  
629  
629  
629  
629  
629  
630  
629  
629  
629  
629  
630  
630  
630  
630  
630  
630  
630  
630  
Volts  
60  
60  
60  
60  
60  
60  
60  
60  
60  
60  
30  
30  
30  
30  
30  
30  
30  
30  
30  
30  
30  
30  
30  
Amps  
40  
40  
40  
40  
40  
40  
40  
40  
40  
40  
40  
40  
40  
40  
40  
40  
40  
40  
40  
40  
40  
40  
40  
7.50  
8.00  
4.40  
3.00  
2.10  
1.29  
1.17  
0.72  
0.60  
0.47  
0.22  
0.27  
0.17  
0.15  
0.11  
0.07  
0.08  
0.05  
0.05  
0.04  
0.03  
0.03  
0.02  
4.0  
3.0  
0.38  
0.48  
0.40  
0.45  
0.50  
0.55  
0.75  
0.90  
0.90  
1.00  
0.60  
0.70  
0.80  
0.90  
1.00  
1.20  
2.00  
2.50  
3.00  
3.50  
3.80  
4.00  
4.20  
2.2  
2.5  
3.0  
3.8  
4.0  
5.3  
6.3  
7.2  
5.9  
6.6  
7.3  
8.0  
8.7  
10.3  
10.8  
12.7  
14.5  
16.0  
17.5  
18.8  
*20.0  
*
Tested at 40 Amps.  
TECHNICAL DATA  
Operating/Storage Temperature  
–40°C to +85°C  
Maximum Device Surface Temperature  
in Tripped State  
+125°C  
Passive Aging  
+85°C, 1000 Hours  
±5% Typical Resistance Change  
±5% Typical Resistance Change  
±10% Typical Resistance Change  
No Resistance Change  
Humidity Aging  
Thermal Shock  
Mechanical Shock  
+85°C, 85% R.H. 1000 Hours  
+125°C/–40°C 10 Times  
MIL–STD–202, Method 213,  
Condition 1 (100g, 6 Seconds)  
Solvent Resistance  
Vibration  
MIL–STD–202, Method 215  
No Change  
No Change  
MIL–STD–883C, Method 2007.1, Condition A  

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