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MC74ACT04NG

更新时间： 2024-09-13 05:22:19
品牌 Logo 应用领域
安森美 - ONSEMI 栅极触发器逻辑集成电路光电二极管
页数 文件大小 规格书
10页 140K
描述
Hex Inverter

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MC74ACT04NG 技术参数

是否无铅： 不含铅是否Rohs认证： 符合
生命周期：Obsolete零件包装代码：DIP
包装说明：LEAD FREE, PLASTIC, DIP-14针数：14
Reach Compliance Code：unknownHTS代码：8542.39.00.01
Factory Lead Time：1 week风险等级：5.35
Is Samacsys：N系列：ACT
JESD-30 代码：R-PDIP-T14JESD-609代码：e3
长度：18.86 mm负载电容（CL）：50 pF
逻辑集成电路类型：INVERTER最大I（ol）：0.024 A
功能数量：6输入次数：1
端子数量：14最高工作温度：85 °C
最低工作温度：-40 °C封装主体材料：PLASTIC/EPOXY
封装代码：DIP封装等效代码：DIP14,.3
封装形状：RECTANGULAR封装形式：IN-LINE
峰值回流温度（摄氏度）：260电源：5 V
Prop。Delay @ Nom-Sup：9 ns传播延迟（tpd）：9 ns
认证状态：Not Qualified施密特触发器：NO
座面最大高度：4.69 mm子类别：Gates
最大供电电压 (Vsup)：5.5 V最小供电电压 (Vsup)：4.5 V
标称供电电压 (Vsup)：5 V表面贴装：NO
技术：CMOS温度等级：INDUSTRIAL
端子面层：Matte Tin (Sn) - annealed端子形式：THROUGH-HOLE
端子节距：2.54 mm端子位置：DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间：40宽度：7.62 mm
Base Number Matches：1

MC74ACT04NG 数据手册

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MC74AC04, MC74ACT04  
Hex Inverter  
Features  
• Outputs Source/Sink 24 mA  
• ′ACT04 Has TTL Compatible Inputs  
• Pb−Free Packages are Available  
http://onsemi.com  
PDIP−14  
N SUFFIX  
CASE 646  
V
CC  
14  
13  
12  
11  
10  
9
8
14  
1
SOIC−14  
D SUFFIX  
CASE 751A  
14  
1
1
2
3
4
5
6
7
TSSOP−14  
DT SUFFIX  
CASE 948G  
14  
GND  
1
Figure 1. Pinout: 14−Lead Packages Conductors  
(Top View)  
SOEIAJ−14  
M SUFFIX  
CASE 965  
14  
MAXIMUM RATINGS  
1
Rating  
Symbol  
Value  
Unit  
DC Supply Voltage (Referenced to GND)  
V
−0.5 to  
+7.0  
V
CC  
ORDERING INFORMATION  
See detailed ordering and shipping information in the package  
dimensions section on page 5 of this data sheet.  
DC Input Voltage (Referenced to GND)  
DC Output Voltage (Referenced to GND)  
V
−0.5 to  
CC  
V
V
in  
V
+0.5  
V
out  
−0.5 to  
V
+0.5  
CC  
DC Input Current, per Pin  
I
±20  
mA  
mA  
mA  
°C  
in  
DC Output Sink/Source Current, per Pin  
I
I
±50  
±50  
out  
CC  
DC V or GND Current per Output Pin  
CC  
Storage Temperature  
T
stg  
−65 to  
+150  
Stresses exceeding Maximum Ratings may damage the device. Maximum  
Ratings are stress ratings only. Functional operation above the Recommended  
Operating Conditions is not implied. Extended exposure to stresses above the  
Recommended Operating Conditions may affect device reliability.  
©
Semiconductor Components Industries, LLC, 2006  
1
Publication Order Number:  
October, 2006 − Rev. 7  
MC74AC04/D  
1234567...10

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