是否Rohs认证: | 符合 | 生命周期: | Obsolete |
包装说明: | FBGA, BGA60,9X11,32 | Reach Compliance Code: | compliant |
风险等级: | 5.29 | 最长访问时间: | 0.45 ns |
最大时钟频率 (fCLK): | 333 MHz | I/O 类型: | COMMON |
交错的突发长度: | 4,8 | JESD-30 代码: | R-PBGA-B60 |
JESD-609代码: | e1 | 内存密度: | 1073741824 bit |
内存集成电路类型: | DDR DRAM | 内存宽度: | 4 |
湿度敏感等级: | 3 | 端子数量: | 60 |
字数: | 268435456 words | 字数代码: | 256000000 |
组织: | 256MX4 | 输出特性: | 3-STATE |
封装主体材料: | PLASTIC/EPOXY | 封装代码: | FBGA |
封装等效代码: | BGA60,9X11,32 | 封装形状: | RECTANGULAR |
封装形式: | GRID ARRAY, FINE PITCH | 峰值回流温度(摄氏度): | 260 |
电源: | 1.8 V | 认证状态: | Not Qualified |
刷新周期: | 8192 | 连续突发长度: | 4,8 |
子类别: | DRAMs | 最大压摆率: | 0.141 mA |
标称供电电压 (Vsup): | 1.8 V | 表面贴装: | YES |
技术: | CMOS | 端子面层: | TIN SILVER COPPER |
端子形式: | BALL | 端子节距: | 0.8 mm |
端子位置: | BOTTOM | 处于峰值回流温度下的最长时间: | 40 |
型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
K4T1G044QF-BCE7 | SAMSUNG |
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1Gb F-die DDR2 SDRAM | |
K4T1G044QF-BCE70 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 256MX4, 0.4ns, CMOS, PBGA60, HALOGEN FREE AND ROHS COMPLIANT, FBGA-60 | |
K4T1G044QF-BCF7 | SAMSUNG |
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1Gb F-die DDR2 SDRAM | |
K4T1G044QF-BCF70 | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 256MX4, 0.4ns, CMOS, PBGA60, HALOGEN FREE AND ROHS COMPLIANT, FBGA-60 | |
K4T1G044QM | SAMSUNG |
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1Gb M-die DDR2 SDRAM Specification | |
K4T1G044QM-ZCCC | SAMSUNG |
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1Gb M-die DDR2 SDRAM Specification | |
K4T1G044QM-ZCCC0 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 256MX4, 0.6ns, CMOS, PBGA68, ROHS COMPLIANT, FBGA-68 | |
K4T1G044QM-ZCD5 | SAMSUNG |
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1Gb M-die DDR2 SDRAM Specification | |
K4T1G044QM-ZCD50 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 256MX4, 0.5ns, CMOS, PBGA68, ROHS COMPLIANT, FBGA-68 | |
K4T1G044QQ | SAMSUNG |
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1Gb Q-die DDR2 SDRAM Specification |