生命周期: | Obsolete | 零件包装代码: | BGA |
包装说明: | TFBGA, | 针数: | 60 |
Reach Compliance Code: | unknown | ECCN代码: | EAR99 |
HTS代码: | 8542.32.00.32 | 风险等级: | 5.71 |
Is Samacsys: | N | 访问模式: | MULTI BANK PAGE BURST |
最长访问时间: | 0.4 ns | 其他特性: | AUTO/SELF REFRESH |
JESD-30 代码: | R-PBGA-B60 | 长度: | 9.5 mm |
内存密度: | 1073741824 bit | 内存集成电路类型: | DDR DRAM |
内存宽度: | 4 | 功能数量: | 1 |
端口数量: | 1 | 端子数量: | 60 |
字数: | 268435456 words | 字数代码: | 256000000 |
工作模式: | SYNCHRONOUS | 最高工作温度: | 95 °C |
最低工作温度: | 组织: | 256MX4 | |
封装主体材料: | PLASTIC/EPOXY | 封装代码: | TFBGA |
封装形状: | RECTANGULAR | 封装形式: | GRID ARRAY, THIN PROFILE, FINE PITCH |
认证状态: | Not Qualified | 座面最大高度: | 1.2 mm |
自我刷新: | YES | 最大供电电压 (Vsup): | 1.9 V |
最小供电电压 (Vsup): | 1.7 V | 标称供电电压 (Vsup): | 1.8 V |
表面贴装: | YES | 技术: | CMOS |
温度等级: | OTHER | 端子形式: | BALL |
端子节距: | 0.8 mm | 端子位置: | BOTTOM |
宽度: | 7.5 mm | Base Number Matches: | 1 |
型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
K4T1G044QE-HCLF7 | SAMSUNG |
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1Gb E-die DDR2 SDRAM | |
K4T1G044QE-HLE6 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 256MX4, 0.45ns, CMOS, PBGA60, HALOGEN FREE AND ROHS COMPLIANT, FBGA-60 | |
K4T1G044QF | SAMSUNG |
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1Gb F-die DDR2 SDRAM | |
K4T1G044QF-BCE6 | SAMSUNG |
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1Gb F-die DDR2 SDRAM | |
K4T1G044QF-BCE7 | SAMSUNG |
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1Gb F-die DDR2 SDRAM | |
K4T1G044QF-BCE70 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 256MX4, 0.4ns, CMOS, PBGA60, HALOGEN FREE AND ROHS COMPLIANT, FBGA-60 | |
K4T1G044QF-BCF7 | SAMSUNG |
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1Gb F-die DDR2 SDRAM | |
K4T1G044QF-BCF70 | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 256MX4, 0.4ns, CMOS, PBGA60, HALOGEN FREE AND ROHS COMPLIANT, FBGA-60 | |
K4T1G044QM | SAMSUNG |
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1Gb M-die DDR2 SDRAM Specification | |
K4T1G044QM-ZCCC | SAMSUNG |
获取价格 |
1Gb M-die DDR2 SDRAM Specification |