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FAQ0125

更新时间： 2023-12-20 18:46:12

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AT32F43x 的ADC 普通位移模式，在某些特殊配置条件下的通道转换时间比理论转换时间固定多1个ADCCLK？

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FAQ0125 数据手册

AT32F43x_ADC 位移模式使用注意事项

FAQ0125

常见问题解答

AT32F43x_ADC位移模式使用注意事项

Questions：AT32F43x 的 ADC 普通位移模式，在某些特殊配置条件下的通道转换时间比理论转

换时间固定多 1 个 ADCCLK？

以 12 位精度，单从机普通位移模式的反复模式为例：

当应用设定通道采样周期为 ADC_SAMPLETIME_2_5，位移长度为 5。

此时按照理论期望同一 ADC 的相邻两个通道采样转换间隔为 15 个 ADCCLK，但是实际测试确认

到的结果是 16 个 ADCCLK。

Answer：

此点为 AT 为保障转换数据的准确性而特别做的设计。

即

“ADC 普通位移模式下，当其中一个 ADC 的 Sampletime 与另一个 ADC 的 Conversiontime 出现重叠时，

因启动新的采样，电压可能会出现不准，会导致转换数据出现小范围的偏差（通常偏差 1 个 LSB），设计让

正在 conversion 的那个 ADC 停止 1 个 ADCCLK 后再重新开始转换，以此消除偏差，保障数据准确性。”

其中“多的这 1 个 ADCCLK”可以通过软件关闭此特别功能来实现，具体实现方法如下：

/*在 ADC 初始化时执行代码*/

*(volatile uint32_t *)0x400123AC |= (0x1 << 0);

类型：MCU 应用

适用型号：AT32F435, AT32F437

主功能：ADC

次功能：无

2023.6.14

第 1 页

版本 2.0.1

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