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Datasheet > 微控制器和处理器 > 并行 IO 端口> CAT9534HV4I-G
CAT9534HV4I-G PDF预览

CAT9534HV4I-G

更新时间： 2024-02-25 11:39:37
品牌 Logo 应用领域
安森美 - ONSEMI 并行IO端口微控制器和处理器外围集成电路
页数 文件大小 规格书
16页 203K
描述
8-bit I²C and SMBus I/O Port with Interrupt

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CAT9534HV4I-G 技术参数

生命周期：Transferred零件包装代码：QFN
包装说明：HVQCCN,针数：16
Reach Compliance Code：unknownECCN代码：EAR99
HTS代码：8542.39.00.01风险等级：5.7
JESD-30 代码：S-XQCC-N16JESD-609代码：e4
长度：4 mmI/O 线路数量：8
端口数量：1端子数量：16
最高工作温度：85 °C最低工作温度：-40 °C
封装主体材料：UNSPECIFIED封装代码：HVQCCN
封装形状：SQUARE封装形式：CHIP CARRIER, HEAT SINK/SLUG, VERY THIN PROFILE
认证状态：Not Qualified座面最大高度：0.8 mm
最大供电电压：5.5 V最小供电电压：2.3 V
表面贴装：YES技术：CMOS
温度等级：INDUSTRIAL端子面层：NICKEL PALLADIUM GOLD
端子形式：NO LEAD端子节距：0.65 mm
端子位置：QUAD宽度：4 mm
uPs/uCs/外围集成电路类型：PARALLEL IO PORT, GENERAL PURPOSE

CAT9534HV4I-G 数据手册

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CAT9534  
PIN CONFIGURATION  
TQFN 4 x 4mm (HV4)  
(Top View)  
SOIC (W), TSSOP (Y)  
A1 A0  
V
SDA  
CC  
1
2
3
4
16  
15  
14  
13  
A0  
A1  
A2  
V
CC  
16 15 14 13  
SDA  
SCL  
INT  
1
2
3
4
12 SCL  
A2  
11  
10  
9
INT  
I/O  
I/O  
0
1
2
I/O  
0
1
2
I/O  
I/O  
5
6
12  
11  
I/O  
7
7
I/O  
I/O  
I/O  
I/O  
I/O  
6
5
4
I/O  
6
7
8
10  
9
I/O  
V
5
6
7
8
3
I/O  
V
I/O I/O  
SS  
3
SS 4 5  
PIN DESCRIPTION  
SOIC / TSSOP  
TQFN  
Pin Name  
A0  
Function  
1
2
15  
16  
1
Address Input 0  
Address Input 1  
Address Input 2  
A1  
3
A2  
4-7  
8
2-5  
6
I/O0-3  
VSS  
Input/Output Port 0 to Input/Output Port 3  
Ground  
9-12  
13  
14  
15  
16  
7-10  
11  
12  
13  
14  
I/O4-7  
Input/Output Port 4 to Input/Output Port 7  
Interrupt Output (open drain)  
Serial Clock  
¯¯¯  
INT  
SCL  
SDA  
VCC  
Serial Data  
Power Supply  
ABSOLUTE MAXIMUM RATINGS (1)  
Parameters  
Ratings  
-0.5 to +6.5  
-0.5 to +5.5  
±50  
Units  
V
VCC with Respect to Ground  
Voltage on Any Pin with Respect to Ground  
DC Current on I/O0 to I/O7  
DC Input Current  
V
mA  
mA  
mA  
mA  
W
±20  
VCC Supply Current  
85  
VSS Supply Current  
100  
Package Power Dissipation Capability (TA = 25°C)  
Junction Temperature  
1.0  
+150  
ºC  
Storage Temperature  
-65 to +150  
ºC  
RELIABILITY CHARACTERISTICS  
Symbol  
Parameter  
Reference Test Method  
JEDEC Standard JESD 22  
JEDEC Standard 17  
Min  
2000  
100  
Units  
Volts  
mA  
(2)  
VZAP  
ESD Susceptibility  
Latch-up  
(2)(3)  
ILTH  
Notes:  
(1) Stresses above those listed under “Absolute Maximum Ratings” may cause permanent damage to the device. These are stress ratings  
only, and functional operation of the device at these or any other conditions outside of those listed in the operational sections of this  
specification is not implied. Exposure to any absolute maximum rating for extended periods may affect device performance and reliability.  
(2) This parameter is tested initially and after a design or process change that affects the parameter.  
(3) Latch-up protection is provided for stresses up to 100mA on address and data pins from -1V to VCC +1V.  
Doc. No. MD-9004 Rev. C  
2
© 2009 SCILLC. All rights reserved  
Characteristics subject to change without notice  
 
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