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ATF1532AE-10CC256

更新时间： 2024-02-16 01:27:27

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爱特美尔 - ATMEL		时钟输入元件可编程逻辑
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描述
EE PLD, 10ns, PBGA256, 1 MM PITCH, TBGA-256

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ATF1532AE-10CC256 技术参数

生命周期：	Obsolete	零件包装代码：	BGA
包装说明：	1 MM PITCH, TBGA-256	针数：	256
Reach Compliance Code：	unknown	HTS代码：	8542.39.00.01
风险等级：	5.84	最大时钟频率：	100 MHz
JESD-30 代码：	S-PBGA-B256	专用输入次数：
I/O 线路数量：	206	端子数量：	256
最高工作温度：	70 °C	最低工作温度：
组织：	0 DEDICATED INPUTS, 206 I/O	输出函数：	MACROCELL
封装主体材料：	PLASTIC/EPOXY	封装代码：	BGA
封装形状：	SQUARE	封装形式：	GRID ARRAY
可编程逻辑类型：	EE PLD	传播延迟：	10 ns
认证状态：	Not Qualified	最大供电电压：	3.6 V
最小供电电压：	3 V	标称供电电压：	3.3 V
表面贴装：	YES	温度等级：	COMMERCIAL
端子形式：	BALL	端子节距：	1 mm
端子位置：	BOTTOM	Base Number Matches：	1

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Features

• 2nd Generation EE Complex Programmable Logic Devices

– 3.0V to 3.6V Operating Range with I/Os 3.3 or 5V Compliant

– 32 - 512 Macrocells with Enhanced Features

– Pin-compatible with Industry-standard Devices

– Speeds to 5 ns Maximum Pin-to-pin Delay

– Registered Operation to 225 MHz

• Enhanced Macrocells with Logic Doubling^™Features

– Bury Either Register or COM while Using the Other for Output

– Dual Independent Feedback Allows Multiple Latch Functions per Macrocell

– 5 Product Terms per Macrocell, Expandable to 40 per Macrocell with Cascade

Logic, Plus 15 More with Foldback Logic

– D/T/Latch Configurable Flip-flops plus Transparent Latches

– Global and/or per Macrocell Register Control Signals

– Global and/or per Macrocell Output Enable

– Programmable Output Slew Rate per Macrocell

– Programmable Output Open Collector Option per Macrocell

– Fast Registered Input from Product Term

• Enhanced Connectivity

ATF15xxAE

Family

Datasheet

ATF1502AE(L)

ATF1504AE(L)

ATF1508AE(L)

ATF1516AE(L)

ATF1532AE(L)

– Single Level Switch Matrix for Maximum Routing Options

– Up to 40 Inputs per Logic Block

• Advanced Power Management Features

– ITD (Input Transition Detection) Available Individually on Global Clocks, Inputs

and I/O for µA Level Standby Current on “L” versions

– Pin-controlled 1 mA Standby Mode

– Reduced-power per Macrocell

– Automatic Power Down of Unused Macrocells

– Programmable Pin-keeper Inputs and I/Os

• Available in Commercial and Industrial Temperature Ranges

• Available in All Popular Packages Including PLCC, PQFP, TQFP and BGA

• EE Technology

– 100% Tested

– Completely Reprogrammable

– 10,000 Program/Erase Cycles

Preliminary

– 20 Year Data Retention

– 2000V ESD Protection

– 200 mA Latch-up Immunity

• JTAG Boundary-scan Testing Port per IEEE 1149.1-1990 and 1149.1a-1993

– Pull-up Option on JTAG Pins TMS and TDI

• IEEE 1532 Compatibility for Fast In-System Programmability (ISP) via JTAG

• PCI-compliant

• Security Fuse Feature

Rev. 2398B–08/01

12 3 4 5 6 7...73

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