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10422FCQR7

更新时间: 2024-02-22 10:21:25
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德州仪器 - TI /
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1页 52K
描述
10422FCQR7

10422FCQR7 技术参数

是否Rohs认证: 不符合生命周期:Obsolete
包装说明:QFF, QFL24,.4SQReach Compliance Code:unknown
风险等级:5.92最长访问时间:7 ns
I/O 类型:SEPARATEJESD-30 代码:S-XQFP-F24
JESD-609代码:e0内存密度:1024 bit
内存集成电路类型:STANDARD SRAM内存宽度:4
负电源额定电压:-5.2 V端子数量:24
字数:256 words字数代码:256
工作模式:ASYNCHRONOUS最高工作温度:70 °C
最低工作温度:组织:256X4
输出特性:OPEN-EMITTER封装主体材料:CERAMIC
封装代码:QFF封装等效代码:QFL24,.4SQ
封装形状:SQUARE封装形式:FLATPACK
并行/串行:PARALLEL电源:-5.2 V
子类别:SRAMs最大压摆率:0.2 mA
表面贴装:YES技术:ECL10K
温度等级:COMMERCIAL端子面层:Tin/Lead (Sn/Pb)
端子形式:FLAT端子节距:1.27 mm
端子位置:QUADBase Number Matches:1

10422FCQR7 数据手册

  

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